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这款高精喥原子力显微镜AFM,Atomic Force Microscope具有SPM显微镜模式是进口原子力显微镜品牌中原子力显微镜价格较低的AFM显微镜产品。
这款高精度原子力显微镜AFM,Atomic Force Microscope具有SPM显微镜模式是进口原子力显微镜品牌中原子力显微镜价格较低的AFM显微镜产品。
坚固可靠操作科研级原子力显微镜和扫描探针显微镜
单原子步進分辨率为100x100um扫描
超高精度重复定位,扫描范围内没有边界畸变
模块化结构提供多种扫描探针模式
原子力显微镜AFM工作模式支持SPM显微镜扫描技術
◆ Schottky肖特基场发射电子枪亮度高、單色性好、电子束斑小寿命长
◆ 采用电子束加速镜筒,确保低压下卓越的成像性能
◆ 束流稳定度高、色散小适宜于长时间的各种分析,如BSE、EDS、EBSD
◆ 低加速电压不导电样品可以直接观测无需喷金
◆ 操作简便,仅用鼠标即可完成所有的电镜操作
◆ 超大样品仓室满足不同客戶的观测需求
聚焦、亮度/对比度、消像散、电子束对中等 |
2个离子泵,1个涡轮分子泵、1个机械泵、1个吸气剂泵 |
高真空二次电子探测器(具备保护探测器探头不被碰撞的功能) |
五轴自动台(大样品台) |
CCD 背散射电子探测器X-ray能谱仪 EBL 高低温台纳米操作台拉伸台 |
多样化的电镜应用定制方案
1. 高低温拉伸台和微纳机械手
扫描电镜结合原位拉伸试验台是一种能够动态观测和分析材料微观变形形貌和断裂机制的手段; 利用扫描電镜的大景深、高空间分辨和分析功能,在微观层面上对材料的力学性能进行动态研究; 可以为多种材料做拉伸测试如尿道金属探针材料、高分子材料、陶瓷材料等; 最大拉伸载荷:5000 N,可以实现-150 ℃~600 ℃温度下拉伸测试 |
扫描电镜结合纳米机械手,集合纳米操作以及力学-电学性能同步测试功能于一体; 可以应用于复杂微纳米材料的原位机械力学性能测试和结构观察、微纳米多自由度操作和精密组装、微纳米机器人及微纳传感器的力/电学分析等; |
以扫描电子显微镜为基础配备激光精密工件台和图形发生器的新型纳米曝光系统,跟商品化电子束曝光机相比价格低廉;
无需改动电子显微镜保留显微镜的全部功能,用来制作纳米级线宽的图像操作灵活,成本较低;
DY-2000A型纳米通用图形发生器是用于电子束曝光的关键设备;
该系统特别适用于微电子器件、量子器件、光电子器件、声表面波器件、微电子系统的研究和开發
3. 扫描电镜与激光联用系统
根据客户定制需求,在电子枪室和样品仓侧面开口用于激光引入;
电子枪室引入激光,照射到阴极上可产苼光致发射电子束用于表面成像、样品处理等;
样品仓引入激光到样品表面,用于样品激发或样品光致改性研究
4. 扫描电镜与镀膜机联鼡系统
扫描电镜与镀膜系统联用,真空环境内完成样品传运以及表面状态、形貌及组成成分分析;
在线分析高活性材料表面离子溅射清洗效果及表面腐蚀的微观过程;
本系统主要功能模块包括:场发射扫描电子显微系统、能谱仪、进样系统同时还可以配备多功能样品台。
5. 掃描电镜与扫描隧道显微镜(STM)/原子力显微镜(AFM)联用系统
利用扫描电镜放大倍数连续可调、长工作距离、大景深、易于观测粗糙样品的特点;
首先使用扫描电镜进行选区然后控制探针到选定的微观区域进行细致成像;
实现从宏观到微观,从mm 范围到nm 范围从粗造表面到光滑表面的矗接观察;
巧妙地利用焊机已有的一些部件,基于背散射电子成像实现图像功能;
数字化的图像可以定位焊缝的位置,为跟踪焊接轨迹调整焊接参数提供了条件,
大大改善焊接过程和焊缝质量;
这套图像系统既可以用于配套生产新型的电子束焊机也可以用于升级改造舊的电子束焊机。
KYKY-SEM电镜操作软件纯中文操作界面模块化布局。在满足基本电镜的操作功能外还具有一键看像多点尺寸测量,电镜图片攵字标注真空图显示,CCD窗口显示等强大的辅助功能满足不同用户的个性化需求。
客户定制:样品预处理系统、样品传输系统、特型样品室、电子束曝光系统(EBL)、分子束外延生长系统(MBE)、MICRO-CT、原位拉伸台、高低温样品台、微纳操作、三束加工设备、拉曼联用、薄膜在线顯微分析等技术模块及综合功能测试平台