肖倩倩,张玲玲,宿霞菲,
浙江理工大学材料与纺织学院,
为了探究各因素对含不锈钢纤维织物电磁屏蔽效能的影响，确定屏蔽效果最好的织物规格，以不锈钢丝包芯纱为原料设计了不同规格抗电磁辐射织物，分别用简易的电磁屏蔽效能测试装置和法兰式同轴小室法对织物的电磁屏蔽效能进行测试，研究了不锈钢纤维含量、织物紧度、组织结构及不锈钢纤维分布方式对织物电磁屏蔽效能的影响。结果表明：织物中不锈钢纤维含量越多，屏蔽效能越高，在不锈钢纤维含量相同的情况下，平纹织物屏蔽效果最好，不锈钢丝包芯纱织物屏蔽效能高于不锈钢纤维混纺纱织物，经纬双向含不锈钢纤维织物屏蔽效能高于单方向含不锈钢纤维织物。(window.slotbydup=window.slotbydup || []).push({
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材料屏蔽性能测试系统
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产品名称: 材料屏蔽性能测试系统
产品型号: H4010A
产品展商: Haoluntech
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材料屏蔽性能测试系统==材料屏蔽性能测试系统=>
->材料屏蔽效能测试
->材料介质特性分析
材料屏蔽性能测试系统
&的详细介绍
&&& 材料的屏蔽效能SE是指空间某点未加屏蔽时的电场强度EO(或电场强度HO、能量场强度PO)与
加屏蔽该点的电场强度E1(或电场强度H1、能量
场强度置P1)的比值，对于实际屏蔽材料，屏蔽效
能SE可表示为:SE=A+R+B, A, R, B三项表达式
如下表所示:
&&& R一表示电磁波通过屏蔽表面时，由阻抗突变引起的反射损耗;
&&& A一表示电磁波在屏蔽体内部传播时，电磁能量波吸收的损耗:
&&& B一表示电磁波在屏蔽体的两个界面的多次反射损耗。
1.小同轴测量法测试试验参照标准:SJ《材料屏蔽效能测量方法》
2.开窗法测试试验参照标准:MIL-STD-285: 1956《用于电子试验的电磁屏蔽环境衰减方法沐
3.法兰同轴传输线法测试试验参照标准:SJ《材料屏蔽效能测量方法》
4.材料特性测试
*注:扩展项目(拱形测量法测试试验、防辐射屏蔽服屏蔽效能检测试验)
材料屏蔽性能测试系统
材料屏蔽性能测试系统
材料屏蔽性能测试系统
注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
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昊伦世纪科技(北京)有限公司版权所有&&&&&
昊伦世纪科技(北京)有限公司
联系电话：010-（北京） 021-（上海） 029-（西安） 0（深圳）&&&028-（成都）
&&&&&&&&&&材料屏蔽效能的测试方法-标准吧
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材料屏蔽效能的测试方法
材料屏蔽效能的测试方法
中华人民共和国电子行业军用标准
材料屏蔽效能的测试方法 &&&&&&&&&&&&&SJ
Measuring methods for shielding effectiveness of materials
1.1主题内容
&&& 本标准规定了非导电材料表面涂或镀层、金属网、导电薄膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料对于平面波屏蔽效能的测量方法。
1.2 适用范围
&&& 本标准适用于金属薄板、非导电材料表面涂或镀层、金属网、导电薄膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料对于平面波的屏蔽效能的测量。
2 引用文件
&&& GB 6113―85&&& 电磁干扰测量仪
&&& GJB 72--85&&& &电磁干扰和电磁兼容性名词术语
&&& GJB/Z 25--90& &电子设备和设施的接地、搭接和屏蔽设计指南
除本标准规定的术语外，其他术语符合GJB 72。
3.1& 屏蔽效能(SE)shielding effectiveness
&&& 在同一激励电平下，有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率或电压之比，并以对数表示。即：
&……………………………………………(1)
………………………………………………(2)
式中：一一屏蔽效眠弛；
&&& &&――无屏蔽材料时的接收电压；
&&& &&――有屏蔽材料时的接收电压；
&&& &――无屏蔽材料时的接收功率；
&& &&――有屏蔽材料时的接收功率。
4.1& 测量条件
&&& a．& 环境温度：23±2℃；
&&& b．& 环境相对湿度：45% ～75%；
&&& c．& 大气压力：86～106kPa；
&&& d．& 试样测试前应在上述环境中保持48h；
&&& e．& 环境电磁噪声对测量结果不应产生影响。
4.2& 测试设备
4.2.1信号源
&&& 频率范围：1MHz～1.5GHz；
&&& 最大输出功率：≥+ 13dBm；
&&& 输出阻抗：50Ω；
&&& 电压驻波比：&2.0。
4.2.2& 电磁干扰测量仪
&&& 工作频率范围与信号源相一致；测量误差应满足GB 6113的要求。
4.2.3& 法兰同轴测试装置，如图1所示；
&&& 频率范围：5kHz～1.5GHz;
&&& 特性阻抗：50Ω；& ．
&&& 电压驻波比：&1.2；
&&& 传输损耗：& ldB；
&&& 测量动态范围：& 100dB。
&&&&&&&&&&&&&&&&& &&&1&&& &2&&& &&&&&&&&3&&&& 2&& &&&&4
1．同轴连接器&& &&&&&&&&&&&&&&&5．导轨
2．锥形同轴线支架&&&&&&&&&&&&& 6．底座
3．连接器紧同螺母
4．锥形同轴线腔体
图l法兰同轴测试装置
4.2.4& 跟踪信号源／频谱分析仪
&&& 频率范围：1MHz～1.5GHz；
&&& 跟踪信号源最大输出功率：≥+ 13dBm；
&&& 跟躁信号源电压驻波比：&2.0;
&&& 频谱分析仪最小分辨率带宽：lkHz;
&&& 频谱仪灵敏度：满足GB 6113的要求；
&&& 特性阻抗：50Ω。
4.2.5&& 网络分析仪
&&& 频率范围：1MHz～1.5GHz；
&&& 时基稳定度：±3ppm/a;
&&& 频率分辨率：lHz；
&&& 特性阻抗：50Ω；
&&& 电压驻波比：&2．O。
4.2.6& 衰减器
&&& 频率范围：30MHz～1.5GHz;
&&& 特性阻抗：50Ω；
&&& 10dB固定衰减器（额定功率满足测试要求）；
&&& 驻波比：&1.2。
4.2.7电缆及连接器
&&& 特性阻抗：50Ω；
&&& 连接器：N型。
&&& 本标准规定的方法中，所用测量设备的核心部分是4.2.3条叙述的法兰同轴测试装置。
该同轴装置内的电场与磁场相互正交，且垂直于电磁波的传播方向，相当于空间的平面电磁
波，因此测量结果是试样对垂直入射平面波的屏蔽效能，（见图2）；对材料近区磁场的测量方法，参见附录A（参考件）。
图2法兰同轴测试装置内部场分布
5.1测量要求
& &&a．& 负载试样最大厚度t≤5mm．试样外径mm，开孔试样孔径mm，被测的材料，应按以下规格制作成试样（见图3）；
& al：可用于5kHz～1.5GHz屏蔽效能测试的负载试样，但对于5kHz～30MHz与ASTM双屏蔽盒法的可比性有待进一步研究；
& a2：用于30MHz～1.5GHz屏蔽效能测试的负载试样l
& a3：用于30MHz～1.5GH校准的参考试样；
图3试样形状尺寸示意图
&&& b．& 试样在受试之前应在温度23±2℃，相对湿度(50±5)%的条件下存放48h，试验时取出并立即进行试验；
&&& c．& 双面均有导电材料的负载试样，应对试样的外缘及贯通孔内壁作导电处理，使两面连通。制成的负载试样和参考试样应是同种材料，并且厚度相同。它们的不平度不应大于其本身厚度的2%;
d．& 在法兰同轴测试装置中夹放试样时，应将导电面朝向信号源端，并夹紧试样．使试样与法兰同轴测试装置紧密的接触，避免因接触不良而引起的测量误差。对屏蔽效能高的试样及玻璃等脆性导电试样，在同轴法兰的法兰面上必须加导电衬垫；
e．& 若测量若干片厚度相同的同一类负载试样时，应使负载试样与法兰同轴测试装置紧密的接触，记下紧固螺母侧面刻度指示的方位值，以后各片负载试样均以此读数为准．这样就保证了每片负载试样的压紧力相同，提高测量的可重复性，避免因压力不同而引起的测量误差.
&&& f．& 本标准所采用的测量设备，必须有足够的动态范围，即测量设备的动态范围应大于法兰同轴测试装置的动态范围；&&
&&& g．& 在对负载试样进行测量之前，应对装有参考试样的情况进行测量；并记录测量数据作为直通状态数据；&&&
&&& h．& 如果有标准试样，应用标准试样对法兰同轴测试装置进行校准。它可以确定整个系统是否工作在正常状态。标准试样为单面镀金的聚酯薄膜，表面电阻为单位面积5±2Ω屏蔽效能为32±3dB；
&&& i．& 由于背景噪声会影响接收机的灵敏度，所以测量屏蔽效能在60dB以上的屏蔽材料时应使用双层屏蔽或半钢性电缆；
&&& j． 在进行此项测量之前，测试人员应进行专门的训练并积累经验，以保证测量结果的准确性和可重复性；
&&& k．& 测量系统应有良好的接地；
&&& 1．& 在进行测量时应至少在30MHz, 50MHz, 100MHz、300MHz, 500MHz、1GHz等频率点
& 给出测量结果；
5.2& 测量方法
&&& 用该法兰同轴测试装置对材料的屏蔽效能进行测量时，常用的测量方法有：信号源／电磁干扰测量仪（干扰接收机）测量方法、跟踪信号源／频谱分析仪测量方法、网络分析仪测量方法。
5.2.1信号源／电磁干扰测量仪（干扰接收机）测量方法
&&& a．按图4连接测量装置，将满足本标准4.2.1条要求的信号源通过lOdB衰减器直接接
入该装置的一端，该装置的另一端直接通过地dB衰减器与电磁干扰测量仪（干扰接收机）相连接，测量时注意测量电缆应尽量的短；
图4信号源／电磁干扰测量仪（干扰接收机）法测量连接图
& b． 接通测量设备的电源，待设备工作稳定后进行测量：
& c.& 把参考试样装入法兰同轴测试装置中，并以专用扳手把紧固螺母拧紧。信号源调到
某测试频率点上，输出电平置于适中，调节电磁干扰测量仪（干扰接收机）频率，使读数最大。增加信号源输出电平，使电磁干扰测量仪(干扰接收机)读数大于被测试样的屏蔽效能估计值，并记下此读数V。(dBμV)；
&&& d．& 取下参考试样，把负载试样装入法兰同轴测试装置中，并以专用扳手把紧固螺母拧紧；
&&& e．& 保持信号源频率和输出电平不变，观察电磁干扰测量仪（干扰接收机）读数，如果读数大于它的背景噪声最少lOdB，记下此时干扰测量仪的读数&(dBμV)；
&&& f．& 计算负载试样屏蔽效能：
....................................& (4)
& &g． 保持信号源输出不变，改变信号源频率，重复上述步骤，可测得负载试样在不同频率点上的屏蔽效能。
5.2.2& 跟踪信号源／频谱分析仪测量方法．
&&& a． 按图5连接测量装置，将满足本标准4.2.4条要求的跟踪信号源／频谱分析仪的输出端直接通过10dB衰减器接入该装置的一端，该装置的另一端直接通过10dB衰减器与跟踪信号源／频谱分析仪测量的输入端相连接；
图5跟踪信号源／频谱分析仪法测量连接图
&&& b．& 接通测量设备的电源，待设备工作稳定后进行测量；
&&& c．& 把参考试样装入法兰同轴测试装置中，并以专用扳手把紧固螺母拧紧。调节跟踪信号源／频谱分析仪，在要求韵频率范围内进行测量，并存储此种情况时的传输特性；
&&& d．& 取下参考试样，把负载试样装入法兰同轴测试装置中，并以专用扳手把紧固螺母拧紧，测量有负载试样后的传输特性；
&&& e．& 参考试样的传输特性与负载试样的传输特性之差即为试样的屏蔽效能；
5.2.3网络分析仪测量方法
&&& a． 将满足本标准4.2.5条要求的网络分析仪根据所测频率范围进行校准后，按图6连接测量装置；
&&& b． 接通测量设备的电源，待设备工作稳定后进行测量；
&&& c． 把参考试样装入法兰同轴测量装置中，并以专用扳手把紧固螺母拧紧。使网络分析
仪的扫频源输出额定最大值，存储网络分析仪此种情况时的传输特性；
&&& d． 取下参考试样，把负载试样装入法兰同轴测量装置中，并以专用扳手把紧固螺母拧
紧；测量有负载试样后的传输特性；
&&& e．& 参考试样的传输特性与负载试样的传输特性之差即为试样的屏蔽效能；
衰减器&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&& 衰减器
图6网络分析仪法测量连接图
5.3以上所提供的三种测量方法，如果发生争议以5.2.1条中的方法为准。
附录A（标准的附录）
测量导电丝网、导电膜、导电橡胶等平板型材料
近场屏蔽效能的推荐方法
A1& 一ES一7（近场）双屏蔽盒测试装置法
&&& 该测量方法的装置示意图见图A1
图A1 ASTM - ES -7（近场）对屏蔽盒测试装置法
&&& 该方法广泛应用于试样的近场SE测量。双屏蔽盒的每个腔分别安装一个小天线用来发
射和接收辐射功率。其基本测量方法是：不加试样时接收天线接收到的功率为P。，加入试样后接收到的功率为．则屏蔽效能SE用下式计算：
&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&& …………………………………………………(A1)
&&& 该方法的优点是：不需要很昂贵的屏蔽室、辅助夹具或其他设施，测量快速简单、方便。但此方法的缺点是腔体工作频率将随腔体的物理尺寸而产生谐振，并且该方法测量结果的重复性易受指状弹性衬垫的状态影响。
&& &注& 1 )ASTM: American Society for Testing and Materials的缩写。
A2 双屏蔽盒测试装置规格尺寸
双屏蔽盒尺寸&&&&&&&&&& 180mm x 120mm x 160
试样尺寸：&&&&&&&&&&&& (76.2 ±3.2mm) X (152.4 ±3.2mm) ;
试样厚度：&&&&&&&&&&&& ≤4mm
频率范围：&&&&&&&&&&&& 1 ～30MHz
动态范围:& &&&&&&&&&&&&50dB;
连接器：&&&&&&&&&&&&&& BNC
& 附录B（标准的附录）
测量导电丝网、导电膜、导电橡胶等平板型材料
屏蔽效能的其他方法
B1 &ASTM-ES-7同轴传输线（远场）法
&&& 该测量方法的装置示意图见图B1
图B1 ASTM-ES-7同轴传输线法
材料的屏蔽效能由入射波功率P。和通过试样的传输功率，按式(Bl)计算得到。
&&&&&&&&&&&&&& ………………………………………(B1)
&&& 此方法的优点是：测试设备的静态阻抗与同轴测试装置匹配较好，因而此装置本身的传输特性比较好。但此方法模拟远场测量再现性较差，特别是对导电漆等表面电阻较大的材料测试效果不好。
B2& 改进的MIL-- STD一285测量方法（近场）
&&& 该测量方法的装置示意图见图B2
图B2改进的MIL - STD- 285测量方法
& &此方法装置图由图I32可见，在屏蔽室壁上开有一个测试孔，发射天线在孔的一边，接收天线在孔的另一边。孔上不盖被测材料时接收端测得入射功率为P。，孔上盖被测材料时接收端测得的透射功率为．屏蔽效能按式(Bl)可计算得到。
&&& 此方法的特点是：方法运用得好可得近场结果。但此方法要求孔的边缘与试样要形成良
好电接触，不应有泄漏。同时试样表面电阻的变化、孔的尺寸、屏蔽室电缆连接、多次反射等都会影响测试结果。
B3 双TEM室法
&&& 该测量方法的装置示意图见图B3
图B3双TEM cell法
& 双TEM室(DTC)，它是由两个TEM室在共用壁上开一窗口，上边小室产生的能量通过
窗口传输到下边小室，从“1”端输入信号，则通过窗口传输到下边室的“2”“3”端输出。这样可以分别检测穿透测量孔的垂直电场分量和水平磁场分量。所以双TEM室可同时模拟高、低阻抗场。测量的基本方法与其他方法类似，同样是以窗口不加试样和加试样分别测出入射功率P。和传输功率，则材料的屏蔽效能可按式(Bl)计算得到。
&&& 此方法的特点是：由于场建立在波导室内，故所需的输入功率低，对周围设备和人员不会造成电磁干扰。其缺点是安装固定被测材料较为困难，尤其是如何减小其接触电阻更为困难，
而且易产生泄漏或地回路，因而动态范围仅有50～60dB。
附加说明：
本标准由中国电子标准化研究所归口。
本标准由中国电子标准化研究所起草。
本标准主要起草人：王庆、蒋全兴、张林昌、吴钒、马富花。
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材料屏蔽效能的测试方法
最新国家标准用于材料屏蔽效能测试的宽带连续导体同轴线夹具的制作方法
用于材料屏蔽效能测试的宽带连续导体同轴线夹具的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种用于材料屏蔽效能测试的夹具，具体来说，设计制作了一种采用阶梯过渡的宽带连续导体同轴线夹具(图1)。本发明要解决的技术问题是提供一种用于材料屏蔽效能测试的同轴线夹具，解决现有材料屏蔽效能测试装置带宽不足、不能满足材料电磁脉冲屏蔽效能测试的问题。为解决上述问题，本发明使用黄铜作为材料，以聚四氟乙烯圆环作为内导体的支撑介质，不连续处采用阶梯过渡的方式，制作了一种导体连续的圆同轴线夹具。本发明配合矢量网络分析仪，可以用于材料的频域屏蔽效能测试。本发明配合脉冲信号源，宽带示波器以及衰减器等搭建材料屏蔽效能的时域测试测试系统，可以用于材料的电磁脉冲屏蔽效能测试。
【专利说明】用于材料屏蔽效能测试的宽带连续导体同轴线夹具
所属【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于材料屏蔽效能测试的夹具，具体来说，设计制作了一种采用阶梯过渡的宽带连续导体同轴线夹具。
【背景技术】
[0002]电磁脉冲作为一种宽频带、高场强的瞬态信号，其对各类屏蔽材料的作用机理十分复杂，仅使用频域测试并不能满足材料的电磁脉冲屏蔽效能(SE)研究需求。而材料屏蔽效能的时域测试方法大都是在参考现有标准GJB和IEC61587-3的基础上进行的，其测量属于强电磁脉冲环境下的弱信号测量，必然对测试系统的带宽和动态范围有很高的要求。
[0003]国内解放军理工大学已成功研制了小型脉冲电场和脉冲磁场屏蔽效能测试系统，采用光纤测量设备，并实现了数据采集与处理的自动化。西北核技术研究所还使用“试件法”对某特种水泥材料进行了屏蔽效能的时域测试。但此类基于光纤传输的电磁脉冲测量系统，由于受脉冲源、脉冲模拟器、脉冲传感器性能的制约，存在着时域测试系统准备时间长、脉冲激励源重复性不好、测试结果相差较大的问题。屏蔽室窗口法虽然在高频段的重复性好、可靠，但是由于窗口尺寸的原因，在低频段存在着一个截止频率，用于电磁脉冲测试时，低频成分必然会极大的衰减，而能够从直流到高频传输信号的同轴线则能很好的改善这些问题。
[0004]典型的同轴线夹具大多是按照美国材料试验学会(ASTM)的ES7和D4935两个标准制作，测试频率上限均为1.5GHz。ES7的特点是同轴线的导体连续，低频下限主要由信号源确定，理论上可到直流。D4935的特点是内外导体全断开，使用法兰配合塑料螺钉夹持材料，依靠测试面的容性电流保持电连接，其低率下限为30MHz。而随着材料向着高效能、高频段屏蔽方向的发展，以及一些上升沿更加陡峭的电磁脉冲的出现，急需将测试夹具的高频上限扩展。虽然国外已在2006年和2009年，研制了高频上限达到了 8GHz和13.5GHz的D4935类导体全断开的同轴测试装置，但是其低频性能仍然不足。针对以上方法不能兼顾低频和高频测试性能的不足，本发明提供了一种宽带连续导体同轴线夹具。
【发明内容】
[0005]本发明要解决的技术问题是提供一种用于材料屏蔽效能测试的同轴线夹具，解决现有材料屏蔽效能测试装置带宽不足、不能满足材料电磁脉冲屏蔽效能测试的问题。
[0006]为解决上述问题，本发明使用黄铜作为材料，以聚四氟乙烯圆环作为内导体的支撑介质，不连续处采用阶梯过渡的方式，制作了一种导体连续的圆同轴线夹具。
[0007]本发明配合矢量网络分析仪，可以测量金属网、导电薄膜、导电玻璃、导电布、导电介质板、表面涂覆或镀导电层材料等电磁屏蔽材料的屏蔽效能，材料试样的最大厚度不超过 4mm。
[0008]本发明配合脉冲信号源，宽带示波器以及衰减器等搭建材料屏蔽效能的时域测试系统，可以测量材料的电磁脉冲屏蔽效能。
[0009]本发明的优点:
[0010]1、采用阶梯过渡段可以大大缩短同轴线夹具的长度，减小制作、装配的误差。优化算法与仿真软件结合的设计方法，保证了同轴线夹具内外径尺寸、阶梯错位距离以及支撑介质尺寸和安装位置的最优化。
[0011]2、实际制作的同轴线夹具在将材料屏蔽效能频域测试的高频上限扩展到IOGHz的同时，导体的连续保证了同轴线夹具的低频下限到直流。反射损耗在O-SGHz的范围内小-20dB，传输损耗小于0.7dB。
[0012]3、可以用于材料对于电磁脉冲的屏蔽效能时域测试，减小了因同轴线夹具带宽不足引入的误差。
[0013]4、测试样本缩小为内直径3mm，外直径20mm的圆环状材料,减小了测试样本与同轴线的接触阻抗以及测试样本与同轴线夹具耦合电容的影响。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]下面结合附图和【具体实施方式】对本发明作进一步详细的说明。
[0015]图1是本发明宽带连续导体同轴线夹具的装配图；
[0016]图2-图8是本发明宽带连续导体同轴线夹具的各组成部件图；
[0017]图9是由本发明组成的材料屏蔽效能频域测试系统；
[0018]图10是由本发明组成的材料屏蔽效能时域测试系统。
【具体实施方式】
[0019]图1为本发明宽带连续导体同轴线夹具的装配图，分别由外壳(1、2、3)组成的外导体壳，2个支撑介质(4)，由内导体(5、6、7)组成的内导体构成。本发明的两端留有N型同轴连接器的安装底座，与其它测试设备连接。
[0020]图9为由衰减器(8)，本发明装置(9)和矢量网络分析仪(10)组成的材料屏蔽效能频域测试系统，可以用与评价材料在O-1OGHz范围内的频域屏蔽效能。首先，使用矢量网络分析仪对未加载屏蔽材料的同轴线夹具进行校准，扣除衰减器、线缆、连接器等器件的衰减，然后加载屏蔽材料测得插入损耗(IL)曲线，即材料屏蔽效能曲线。
[0021]图10为由本发明装置(9)，脉冲源(11)，衰减器(12、13)，示波器(14)组成的材料屏蔽效能时域测试系统，可以用于评价材料对于电磁脉冲的屏蔽效能。选择合适的衰减器，确保未加屏蔽和未加载材料时输出的脉冲在不波器的量程范围内，触发脉冲信号源，使用示波器测得未加载材料和加载材料后的时域波形，跟据这两组时域波形即可计算材料对于电磁脉冲的屏蔽效能。
【权利要求】
1.一种用于材料屏蔽效能测试的连续导体同轴线夹具，包括:由外壳(1、2、3)组成的外导体壳，2个支撑介质(4)，由内导体(5、6、7)组成的内导体构成，其特征在于:
在外导体壳(1、2、3)和内导体(5、6、7)的不连续过渡段采用阶梯式过渡，并进行了错位补偿；支撑介质(4)进行了优化设计，其距离不连续处22.54mm，嵌入内导体深0.64mm、夕卜导体深0.7mm,并在支撑介质(4)的两面挖去了深0.64_、宽2.54mm的环形凹槽进行补偿。
2.基于权利要求1所述的宽带连续导体同轴线夹具(9)可以用于材料的频域屏蔽效能测试，其特征在于:
配合衰减器(8)和矢量网络分析仪(10)，可以对金属网、导电薄膜、导电布、表面涂覆或镀导电层的材料等电磁屏蔽材料的屏蔽效能进行测量，材料试样仅需内直径3mm、外直径20mm的圆环状材料，测试频率上限达10GHz。
3.基于权利要求1所述的宽带连续导体同轴线夹具(9)可以用于材料对于电磁脉冲的屏蔽效能测试。其特征在于:
配合脉冲源(11)，衰减器(12、13)，示波器(14)搭建的材料屏蔽效能时域测试系统，可以对材料进行屏蔽效能的时域测试，评价材料对于电磁脉冲的屏蔽效能。
【文档编号】G01R1/04GKSQ
【公开日】日
申请日期:日
优先权日:日
【发明者】陈永光, 魏明, 陈翔, 范丽思, 张希军, 纪志强, 胡小锋
申请人:中国人民解放军军械工程学院