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X射线测厚仪属于第几类射线装置
根据射线装置对人体健康和环境可能造成危害的程度，从高到低将射线装置分为Ⅰ类、Ⅱ类、Ⅲ类。按照使用用途分医用射线装置和非医用射线装置。&（一）Ⅰ类为高危险射线装置，事故时可以使短时间受照射人员产生严重放射损伤，甚至死亡,或对环境造成严重影响；&（二）Ⅱ类为中危险射线装置，事故时可以使受照人员产生较严重放射损伤，大剂量照射甚至导致死亡；&（三）Ⅲ类为低危险射线装置，事故时一般不会造成受照人员的放射损伤。测厚仪应该属于Ⅲ类射线装置。
采纳率：50%
X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度.　　　适用范围：生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套　　，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中， x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧　　和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。
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深圳市精诚兴仪器仪表有限公司
X射线镀层测厚仪,日本共立测试包,电镀测厚仪,X-RAY膜厚仪
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X射线测厚仪
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【简单介绍】
X射线测厚仪仪,韩国先锋X射线镀层测厚仪:检测电子电镀镀层厚度XRF-2000镀层测厚仪,测量镀金,镀银,镀镍,镀锌,镀铜,镀锡,镀钯等
【详细说明】
X射线镀层测厚仪(韩国先锋XRF-2000系列)&X射线测厚仪&产品介绍&X&萤光射线膜厚分析仪是利用&XRF&原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层&/&镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。&&&XRF-2000&系列分为以下三种：&&&1.&H型:&密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。&&2.&L型:&&密闭式样品室，方便测量&样品较小，高度约30mm以下。&&3.&PCB型:&&开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下&应用&:&检测电子电镀,PCB板,五金电镀层厚度测量范围根据不同镀层0.04-35um精度控制：&&&&& 第一层：&5%以内&&&&& 第二层：&8%以内&&&&& 第三层：&12%以内测量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等,其可侦测元素的范围：&Ti(22)~U(92&)。&&&&特色&:&&非破坏，非接触式检测分析，快速精确。&可测量高达六层的镀层&(五层厚度&+&底材&)&并可同时分析多种元素。&相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告&。&&&全系列独特设计样品与光径自动对焦系统。&&&标准配备:&溶液分析软体&，可以分析电镀液成份与含量。&&准直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。&&&&移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差&。&&&&独特2D与3D或任意位置表面量测分析。&&&雷射对焦，配合CCD摄取影像使用point&and&shot功能。&标準ROI软体&搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告&。&光学20倍影像放大功能，更能精确对位。&&单位选择：&mils&、&uin&、&mm&、&um&。&&&优于美制仪器的设计与零件可&靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。&&&&韩国Micro Pioneer还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，其物点为：高分辨率，固态探测器;可分析超薄样品分析有害物质，元素分析分之ppm - 100％,符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析；电镀溶液分析；定性分析超过30种元素,能够测量液体，固体，粉末，薄膜和不规则形状；贵金属元素含量和分析（金，银，铂，和珠宝）；自动过滤器，多准直仪(五个准直器，从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台；性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器仪器尺寸：W610mm D670mm H490mm,重量：75Kg (net)&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&&可测量样器大小：W550mm D550mm H30mm&韩国XRF2000-X射线测厚仪全自动台面自动雷射对焦多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)镀层厚度测试范围：0.03－35um可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)合金镀层:如铁上镀锡铜等X射线测厚仪,X光镀层测厚仪
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德国菲希尔XDALX射线荧光测厚仪的测量空间宽大，可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置最高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。
德国菲希尔XAN250高性能X射线荧光法测量仪配有先进的硅漂移探测器（SDD），可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。
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