光谱分析仪原理是CCD的吗

河北光谱仪CCD
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河北光谱仪CCD
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目前,等离子体光谱仪(ICP)越来越受到各行各业的青睐。但是,由于这种仪器的价格较为昂贵,令许多用户望而生畏!有些行业(如环保行业)的用户往往会选择分析性能有很大局限性的顺序型等离子体光谱仪(ICP)或原子吸收光谱仪。
德国斯派克分析仪器公司新开发的— SPECTRO GENESIS 是一种其性能远在顺序型等离子体光谱仪(ICP)或原子吸收光谱仪之上,但价位却可以与之媲美的全谱等离子体发射光谱仪。激发光源采用计算机控制、频率为27.12 MHz、输出功率0.7 - 1.7 kW的射频发生器。它具有自动等离子激发和待机运行模式等特点,可节省能耗和氩气耗量。适应样品种类的连续变换,可确保对多种样品甚至快速更换样品时始终具有稳定、有效的等离子体能量。另外,它还具有稳定、可靠、耐用等特点。
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联系电话是022-,联系手机是,主要经营公司秉承“科技优先、以人为本”的理念,以高科技的产品和完善的服务体系来回报社会,欢迎国内外各界朋友光临洽谈业务,今后公司将一如既往将振兴民族工业为己任,在民族工业化、科技化、国际化方面做出更大的贡献,回报社会各界的关注、支持。
主要业务∶红外线测温仪;测振仪;超声波测厚仪;涂层测厚仪;洛氏硬度计;布氏硬度计;邵氏硬度计;里氏硬度计;
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单位注册资金单位注册资金人民币 100 万元以下。
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发表于: 09:36:30
对光谱仪有所了解的人都知道,CCD检测器的使用大大降低了火花直读光谱仪的硬件成本和调试流程。某品牌甚至可以做到拷贝程序,即硬件搭建好,程序拷入电脑适当调试即可使用。CCD检测器因其全谱的优势,可以大大缩小直读光谱仪硬件的体积。以上都是使用CCD检测器直读光谱仪的优势。然而相对于光电倍增管(PMT)检测器,使用CCD检测光谱仪的缺点也是显而易见的,而且是无法回避的。其一、原理上CCD器件的整个工作过程是一种电荷耦合过程,因此这类器件叫电荷耦合器件。对于CCD器件,当一个或多个检测器的象素被某一强光谱线饱和时,便会产生溢流现象。即光子引发的电荷充满该象素,并流入相邻的象素,损坏该过饱和象素及其相邻象素的分析正确性,并且需要较长时间才能使溢流的电荷消失。图一、CCD工作单元MOS电容示意图其二、限于原理上的先天缺陷,使用CCD检测器的直读光谱仪存在灵敏度低,检出下限(LOD),动态范围,信噪比等等方面的性能均不如PMT检测好。 灵敏度CCD(电荷藕合器件)是面扫描(分区)测量,检测结果受强光谱线饱和影响大PMT光电倍增(真空)管是点(或线)测量,但每个(通道)元素对应一个PMT,元素的相互影响较小检测下限(LOD)100ppm1ppm动态范围104106信噪比必须要深冷处理才能提信噪比在常温下就具有较好的信噪比,光电倍增管具有很高的电流放大作用,使信噪比远远优于CCD,图谱更加清晰噪声全部扫描方式检测,不同谱线之间存在干扰性,噪声大真空点线测量,每个通道对应一个PMT,元素的相互影响较小,噪声小其三、使用CCD检测器成为部分直读光谱制造厂商所见成本的一种途径。我们可以通过下面拆解图的来具体了解CCD光谱仪硬件方面的不足。图二、CCD光谱仪拆解图从CCD光谱图中我们可以一眼看出①& 狭小的光室体积(400mm光栅焦距),决定了分光效果远不如大光室750mm光栅焦距的V-950光谱效果好。②& 纤薄的机壳热稳定性和机械稳定性远差。和使用高强度铸铝光室的V-950光谱不可相提并论。③& 充氩光室分析短波元素(P、S、B等)精准度很差④& 光纤传输的入射光信号稳定性差,有衰减,尤其是短波元素。⑤& CCD片自身信噪比低,寿命短,采集信号强度衰减快。采用高精度PMT检测器的V-950从设计原理上就不存在③、④、⑤中所涉及的问题。节省成本,迎合短期市场不是美国埃米Angstrom光谱仪考虑的方向,V-950的制造理念是精细高端。从用户使用长远角度考虑,好的仪器才是最佳的选择。图三、美国埃米Angstrom V-950光室外部
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很好的资料 解说的很详细 很专业&
sunyangguang
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真是很专业
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解说的很到位,但是希望把文中的设备品牌去掉,PMT直读不止你一家。
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学习了,很好
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是不是卖美国埃米Angstrom光谱仪的?
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原文由 hsz123456(hsz123456) 发表:是不是卖美国埃米Angstrom光谱仪的? 仪器厂家之间的竞争
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这方面的资料较少,鼓励多发,路遥知马力。
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铸铁的这么大的分光室,很笨重吧!
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既然CCD数据会饱和,如果换成CID会怎么样呢 我只是随便问问的
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不能说高端不使用CCD,而是PMT和CCD共同应用,互补优缺点,这才这真正的高端产品。光谱仪上的CCD或ICCD是什么,作用是什么_百度知道
光谱仪上的CCD或ICCD是什么,作用是什么
我有更好的答案
信号电荷不用转移,是直接注入体内形成电流来读出的。即每当积分结束时。像增强器由光阴极、微通道板,从而可以准确地进行象素寻址而滞后极微。这两种装置具有随机或准随机象素寻址功能的二维检测器。可以将一个CCD看作是许多个光电检测模拟移位寄存器。在光子产生的电荷被贮存起来之后,它们近水平方向被一行一行地通过一个高速移位寄存器记录到一个前置放大器上。最后得到的信号被贮存在计算机里。CCD器件的整个工作过程是一种电荷耦合过程,因此这类器件叫电荷耦合器件。对于CCD器件,当一个或多个检测器的象素被某一强光谱线饱和时:分光后光子照射到检测器上,发生了光电转换效应,产生的电荷被收集并储存在金属-氧化物-半导(MOS)电容器中、荧光屏组成。所以量子效率和暗电流(无光照条件下,从而在外电路中引起信号电流,损坏该过饱和象素及其相邻象素的分析正确性,并且需要较长时间才能便溢流的电荷消失,产生的电子被收集在势阱里,其积分过程与CCD一样。CID与CCD的主要区别在于读出过程,或在象表上加装溢流门,并结合自动积分技术等、微通道板、微通道板 -荧光屏之间存在高电压,放大后的电子束打在荧光屏上成像,去掉栅极上的电压,存贮在势阱中的电荷少数载流子(电子)被注入到体内。电荷被贮存起来之后,检测器产生的电流,即相当于背景噪音),和检测器的灵敏度有很大的关系ICCD工作原理ICCD(Intensified CCD),带有像增强功能的CCD相机,如上图所示一般由像增强器和CCD相机组成,入射光子在势阱邻近被吸收时,属于这一类的成像器件,目前较成熟的主要是电荷注入器件(CID),它们通过一个高速移位寄存器记录到一个前置放大器上,最后得到的信号就被贮存在计算机里、电荷耦合器件(CCD),然后经光纤锥耦合到CCD上对像进行记录,例如:进行分段构成分段式电荷耦合器件(SCD),信号一经读取即刻消失。而在CID中。Denton与其同事们是将电荷耦合与电荷注入检测器(Charge-Coupled Detector and Charge-Injection Detector。光子打到光阴极后产生光电子,这种读出方式称为非破坏性读取(Non-Destructive Read Out),简称,它是一类以半导体硅片为基材的光敏元件制成的多元阵列集成电路式的焦平面检测器,信号电荷必须经过转移,才能读出,便会产生溢流现象。即光子引发的电荷充满该象素,并流入相邻的象素。为了解决溢流问题,应用于原子光谱分析的CCD器件,在设计过程中必须进行改进。在荧光屏-微通道板。CID是一种电荷注入器件(Charge-Injected Device),其基本结构与CCD相似,也是一种MOS结构,当栅极上加上电压时,表面形成少数载流子(电子)的势阱,简称CCD与CID)用于原子光谱分析的主要推动者。在这两种装置中,由光子产生的电荷被收集并储存在金属-氧化物-半导体(MOS)电容器中固态成像器件固态成像器件是新一代的光电转换检测器,光电子进入微通道板后被倍增:NDRO。CID的NDRO特性使它具有优化指定波长处的信噪比(S/N)的功能。CID是电荷注入式固体检测器(主要热电的在用)CCD是电荷偶合固体检测器(Varian,Leman,SPECTRO都用的这个)SCD是CCD的一种,分成小块,在CCD中,形成阵列(PE独有)它们的区别主要是电荷的读取方式不一样而已,上面也已经说得很详细了量子效率从光电效应上讲是指被光照射后,在半导体硅片上产生的电子数和入射的光子数之比值乘以100%。因为在检测器的前期过程就是一个光电转换的过程。此时的像为增强后的影像
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直读光谱仪OES6000 & 金属材料的元素含量测试是金属冶炼、铸造、加工、机械行业中的研发、生产控制、质量检验工作的传统测试项目。经典的化学分析方法操作复杂、分析元素单一、分析过程时间长、消耗对环境潜在危害的化学试剂。冶金铸造炉前同步分析的快速分析需求,直接促使直读光谱仪的发明。直读光谱仪的发明和改进的几十年来,完美的实现了金属材料相关行业对金属材料元素含量分析速度快、元素种类丰富、成本低、环境友好等多方面需求,其他元素分析方法从未如此同时恰好满足以上需求。 目前,直读光谱仪广泛应用于钢铁及有色金属材料的元素含量分析 快速、精确、稳定、可靠测试几十种元素 满足工业研发、工艺控制、进料检验、产品分选多方面要求 是追求产品性能和质量水平的冶炼、铸造、加工、机械企业的必选设备。 直读光谱仪的快速分析加速了关联流程,为钢铁及有色金属行业创造了明显的经济效益和环保效益。 & & & & 样品预处理方法简单,测试过程少于40秒,不需专业、复杂的操作,不使用环境不友好的化学试剂,可同时测试钢铁及有色金属几乎所有关注元素,是钢铁及有色金属行业的分析测试工作的高效率和低成本首选解决方案。 技术性能及参数 1. 分光室设计 ●&帕邢-龙格结构 ●&恒温控制(34℃&0.5℃) ●&特殊材质铸造,保证光室形变小 2. 凹面光栅 ●&刻线密度3600 l/mm ●&一级光谱线色散率:1.2 nm/mm ●&波长范围200-500nm 3. 检测器 ●&高性能线阵CCD 4. 分析时间 ●&依样品种类而不同,一般少于30秒 5. 激发光源 ●&全数字等离子火花光源技术 ●&高能预燃技术 (HEPS) ●&频率100-1000Hz ●&电流1-80A 6. 激发台 ●&4mm样品台分析间隙 ●&喷射电极技术 ●&无待机流量,低氩气消耗 7. 尺寸 ●&高300mm 长 500mm 宽 450mm 8. 功率 ●&最大功率700 W ●&待机功率40 W 工作条件 ●&工作温度:15-30℃ ●&相对湿度:&70% ●&电 源:220&5V,电流20A,单相50Hz,接地电阻<1&O 辅助设备 ● 高纯氩气&&纯度99.999%以上 ● 交流参数稳压电源&&1KVA ● 光谱磨样机&&用于钢铁、镍合金等样品 ● 小型车床&&用于铝、铜、锌、镁合金等样品 ● 空调&&依实验室面积配置匹配功率 技术优势 &&全谱检测全面测试各种金属和元素 基于CCD检测器光路技术,全面测试各种金属中元素的谱线,灵活低成本实现更多基体、元素的测试。 &&专业的测试方案 长期测试技术服务的积淀,天瑞仪器为钢铁、有色金属材料分析用户提供成熟的测试方案。 测试方案采用针对材料元素含量分类的分析程序,满足用户各类常见测试需求。 分析程序由原厂采用国际、国家标准样品校准,经专业仪器软件拟合、校正。 用户只需采用原厂配置少量标准化样品即可完成日常维护,不需购买大量制作分析程序的标准样品。 & &&国际顶级供应商提供核心部件 &光谱色散元件&&光栅由德国Zeiss制造,保证优异的光谱分辨能力 &光谱检测器&&光电倍增管由日本Toshiba制造,确保谱线检测灵敏、低噪声 光学镜片&&德国Zeiss制造,光纤&&美国Agilent制造 &&优秀的光室恒温系统 光室恒温腔体内配置反馈式加热装置和高效隔温层,有效保证光室内恒温。 由此抑制温度变化下机械件尺寸微弱变化导致的光路漂移。同时光电器件工作在恒温环境有助于性能的稳定。 测试示例 样品取样 & 样品取样可分为熔体取样和成品取样。熔体取样需将金属液体注入模具中凝固成块状样品。成品取样需考虑尺寸、形状来考虑是否需切割样品。 参考标准 & 《GB/T &钢和铁 化学成分测定用试样的取样和制样方法》 & 《GB/T 铸造合金光谱分析取样方法》 样品预处理 & 高硬度金属(如钢铁、镍合金)使用光谱磨样机打磨样品的测试面,低硬度金属(如铝合金、铜合金、锌合金)使用成床车削样品的测试面,使样品表面平整、光洁、划痕一致。 & 样品测试 将样品放置于样品激发台上,操作计算机软件启动仪器测试过程,测试完成可同时显示所有配置元素。单次测试过程少于40秒,一般建议同一样品测试三次。 & 测试数据保存 & 测试结果可保存于仪器软件数据库或直接打印。 & & &&&&& & & && &&&&&&& 江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本15392万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。 &
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斯派克光谱仪
斯派克光谱仪是德国斯派克集团生产的一款光谱仪。
斯派克光谱仪基本介绍
斯派克是德国一家大型分析仪器集团。旗下汇集了光谱仪,直读光谱仪,光谱分析仪,ICP等离子光谱仪,手持式光谱仪,X射线荧光光谱仪等众多。
斯派克光谱仪传统仪器
传统的原子发射光谱仪器
是采用衍射光栅,将不同波长的光色散并成像在各个出射狭缝上,光电倍增管(PMT)则安装于出射狭缝后面。为了使光谱仪能装上尽可能多的检测器,仪器的分光系统必须将谱线尽量分开,也就是说单色器的焦距要足够长,最初的达3.2m。即使采用高刻线光栅,也需0.5m至1.0m长的焦距,才有满意的分辨率和装上足够多的检测器。而且,所有这些光学器件均需精确定位,误差不得超过几个微米;并且要求整个系统有很高的机械稳定性和热稳定性。由于振动和温湿度变化等环境因素导致光学元件的微小变形,将使光路偏离定位,造成测量结果波动。为减少这类影响,通常将光学系统放置在一块长度至少为0.5m以上的刚性合金基座上,整个单色系统必须恒温恒湿。这就是传统光谱仪庞大而笨重,使用条件要求高的原因。而且,由于传统的光谱仪是使用多个独立的PMT和电路测定被分析元素,分析一个元素至少要预先设置一个通道。
新型分光系统和固体检测器的出现改变了这一局面。   ① 二维光谱的产生。当仅仅使用光栅进行分光时,产生的是一维光谱,在焦平面上形成线状光谱;中阶梯光栅与棱镜组合的色散系统,可产生二维光谱,即棱镜产生的一维线状光谱又被中阶梯光栅分光一次,在焦平面上形成二维的点状光谱。   ② 固体检测器。目前已被采用的固体检测器主要有:  CCD(Charge-Coupled Detector),电荷耦合检测器。 二维检测器,每个CCD检测器包含2500个像素,将22个CCD检测器环形排列于罗兰园上,可同时分析120-800nm波长范围的谱线。应用于直读光谱仪,ICP等离子光谱仪等  CID(Charge-Injection Detector),电荷注入式检测器,二维阵列,28×28mm的芯片共有512×512(262,144)个检测单元,覆盖167-1050nm波长范围;  SCD(Subsection Charge-Coupled Detector)分段式电荷耦合检测器,面阵检测器,面积:13×19mm,有6000个感光点,有5000条谱线可供选择;   CCD、CID等固体检测器,作为光电元件具有暗电流小、灵敏度高、信噪比较高的特点,具有很高的量子效率,接近理想器件的理论极限值。而且是超小型的、大规模集成的元件,可以制成线阵式和面阵式的检测器,能同时记录成千上万条谱线,并大大缩短了分光系统的焦距,使直读光谱仪的多元素同时测定功能大为提高,而仪器体积又可大为缩小,焦距可缩短到0.4m以下,正在成为PMT器件的换代产品。
斯派克光谱仪差异
光电倍增管,CCD,CID检测器的差异
目前较成熟的主要是电荷注入器件Charge-Injection Detector(CID)、电荷耦合器件Charge-Coupled Detector (CCD)。   在这两种装置中,由光子产生的电荷被收集并储存在金属-氧化物-半导体(MOS)电容器中,从而可以准确地进行象素寻址而滞后极微。这两种装置具有随机或准随机象素寻址功能的二维检测器。可以将一个CCD看作是许多个光电检测模拟移位寄存器。在光子产生的电荷被贮存起来之后,它们近水平方向被一行一行地通过一个高速移位寄存器记录到一个前置放大器上。最后得到的信号被贮存在计算机里。   CCD器件的整个工作过程是一种电荷耦合过程,因此这类器件叫电荷耦合器件。对于CCD器件,当一个或多个检测器的象素被某一强光谱线饱和时,便会产生溢流现象。即光子引发的电荷充满该象素,并流入相邻的象素,损坏该过饱和象素及其相邻象素的分析正确性,并且需要较长时间才能便溢流的电荷消失。为了解决溢流问题,应用于原子光谱分析的CCD器件,在设计过程中必须进行改进,例如:进行分段构成分段式电荷耦合器件(SCD),或在象表上加装溢流门,并结合自动积分技术等。   CID是一种电荷注入器件(Charge-Injected Device),其基本结构与CCD相似,也是一种MOS结构,当栅极上加上电压时,表面形成少数载流子(电子)的势阱,入射光子在势阱邻近被吸收时,产生的电子被收集在势阱里,其积分过程与CCD一样。   CID与CCD的主要区别在于读出过程,在CCD中,信号电荷必须经过转移,才能读出,信号一经读取即刻消失。而在CID中,信号电荷不用转移,是直接注入体内形成电流来读出的。即每当积分结束时,去掉栅极上的电压,存贮在势阱中的电荷少数载流子(电子)被注入到体内,从而在外电路中引起信号电流,这种读出方式称为非破坏性读取(Non-Destructive Read Out),简称:NDRO.CID的NDRO特性使它具有优化指定波长处的信噪比(S/N)的功能。   同时CID可寻址到任意一个或一组象素,因此可获得如“相板”一样的所有元素谱线信息。   电荷耦合器件Charge-Coupled Detector (CCD)   电荷注入器件Charge-Injection Detector(CID)   在这两种装置中,由光子产生的电荷被收集并储存在金属-氧化物-半导体(MOS)电容器中,从而可以准确地进行象素寻址而滞后极微。这两种装置具有随机或准随机象素寻址功能的二维检测器。可以将一个CCD看作是许多个光电检测模拟移位寄存器。在光子产生的电荷被贮存起来之后,它们近水平方向被一行一行地通过一个高速移位寄存器记录到一个前置放大器上。最后得到的信号被贮存在计算机里。   CCD器件的整个工作过程是一种电荷耦合过程,因此这类器件叫电荷耦合器件。对于CCD器件,当一个或多个检测器的象素被某一强光谱线饱和时,便会产生溢流现象。即光子引发的电荷充满该象素,并流入相邻的象素,损坏该过饱和象素及其相邻象素的分析正确性,并且需要较长时间才能便溢流的电荷消失。为了解决溢流问题,应用于原子光谱分析的CCD器件,在设计过程中必须进行改进,例如:进行分段构成分段式电荷耦合器件(SCD),或在象表上加装溢流门,并结合自动积分技术等。   CID是一种电荷注入器件(Charge-Injected Device),其基本结构与CCD相似,也是一种MOS结构,当栅极上加上电压时,表面形成少数载流子(电子)的势阱,入射光子在势阱邻近被吸收时,产生的电子被收集在势阱里,其积分过程与CCD一样。   CID与CCD的主要区别在于读出过程,在CCD中,信号电荷必须经过转移,才能读出,信号一经读取即刻消失。而在CID中,信号电荷不用转移,是直接注入体内形成电流来读出的。即每当积分结束时,去掉栅极上的电压,存贮在势阱中的电荷少数载流子(电子)被注入到体内,从而在外电路中引起信号电流,这种读出方式称为非破坏性读取(Non-Destructive Read Out),简称:NDRO.CID的NDRO特性使它具有优化指定波长处的信噪比(S/N)的功能。   同时CID可寻址到任意一个或一组象素,因此可获得如“相板”一样的所有元素谱线信息。
斯派克光谱仪光电倍增管
  外光电效应所释放的电子打在物体上能释放出更多的电子的现象称为二次电子倍增。光电倍增管就是根据二次电子倍增现象制造的。它由一个光阴极、多个打拿极和一个阳极所组成,见图,每一个电极保持比前一个电极高得多的电压(如100V)。当入射光照射到光阴极而释放出电子时,电子在高真空中被电场加速,打到第一打拿极上。一个入射电子的能量给予打拿极中的多个电子,从而每一个入射电子平均使打拿极表面发射几个电子。二次发射的电子又被加速打到第二打拿极上,电子数目再度被二次发射过程倍增,如此逐级进一步倍增,直到电子聚集到管子阳极为止。通常光电倍增管约有十二个打拿极,电子放大系数(或称增益)可达108,特别适合于对微弱光强的测量,普遍为光电直读光谱仪所采用。   光电倍增管的窗口可分为侧窗式和端窗式两种.   光电倍增管知道,是基于外光电效应和二次电子发射效应的电子真空器件。它利用二次电子发射使逸出的光电子倍增,获得远高于光电管的灵敏度,能测量微弱的光信号。   光电倍增管可分成4个主要部分,分别是:光电阴极、电子光学输入系统、电子倍增系统、阳极。   PMT光电倍增(真空)管是点(或线)测量,可在常温下测量有较好的信噪比,但每个(通道)元素对应一个PMT,元素越多PMT越多。   CCD(电荷藕合器件)是面扫描(分区)测量,须要深冷处理(以提高信噪比),但数量远少于PMT,三个CCD(分三个段或三个区)就可覆盖绝大多数元素(全谱)。   综上所述,PMT和CCD(注:和数码相机的CCD有区别)各有千秋,目前来说不可能互相代替(替换)。   PMT的测量原理是光电效应,CCD是电荷耦合;CCD不受通道数量的限制因为它是全谱检测器,这一点PMT不行,因为PMT是一个对应一个波长,这是CCD 的最大优势,基于此可以将光谱仪小型化;但是CCD只能检测一级光谱而PMT可以检测更高级次的光谱;作为商品仪器CCD的价格要比CPM型仪器便宜。   整个波长范围内的所有谱线均可利用,我们可以选择所有的最佳线来进行分析,不会因为空间有限而被迫放弃某些最佳线对于任何一个元素,都有许多谱线可供选择,能够覆盖完整的含量范围。对于某个特定的含量范围,我们也可以同时选择几条谱线进行分析,对这些谱线的结果进行平均,这样可以提高分析结果的再现性   根据用户的需要,可以添加额外的谱线(针对不常见的元素)。这可以在仪器生产时完成,或者在用户现场完成在用户现场可以添加新的基体,而且无须对硬件做任何改动  中阶梯光栅与棱镜组合的色散系统采用CCD、CID一类面阵式检测器,就组成了全谱(可以覆盖全波长范围)直读光谱仪,兼具光电法与摄谱法的优点,从而能更大限度地获取光谱信息,便于进行光谱干扰和谱线强度空间分布同时测量,有利于多谱图校正技术的采用,有效地消除光谱干扰,提高选择性和灵敏度,而且仪器的体积结构更为紧凑。
早期国外把等离子体发射光谱仪(ICP-OES)仪器分成同时型(‰ultanolls)和顺序型(Sequemial)~类。国内把色散系统区分为多色器(Pclychromator)、单色器(M∞Dd∞mⅫ),仪器则从检测器来区分,命名为多通道型(多道),顺序型(单道扫描)仪器“。]。其仪器的分类命名与仪器功能.仪器结构基本一致,与国外的仪器分类也一致。ICP-OES仪器在其发展期间.又有N+1的单道与多道结合型仪器出现,以及有入射狭逢能沿罗兰圈光学平面移动,完成1--2 ra&a内扫描,能获得谱图的多道仪器出现,但总体上仍没动摇仪器的原始分类。
1991年新的中阶梯光栅固态检测器ICP-OES仪器问世,新的仪器把中阶梯光栅等光学元件形成的二维谱图投影到平面固态检测器的感光点上,使仪器同时具有同时型和顺序型仪器的功能,这样形成了新一类的仪器。从它的信号检出来看,它与同时型仪器很接近,故有的国外文献仍把它简单归为同时型(Simultane~s)仪器。但更多的是从仪器的硬件结构上出发,采用中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪“EcheUe grating solid state detector ICP—OES&#39;’的命名。 1993年该类仪器进入中国市场.国内仪器广告上出现“全谱直读”一新名词。随着该类仪器的推广使用,该名词逐渐渗^期刊杂志,教科书,学术界,甚至作为仪器分类词出现在《现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程中o   纵观国外涉及到中阶梯光栅固态检测器等离子体光谱仪的期刊杂志,书籍和文献均未使用到该词或与之意恩相近的词。甚至各仪器厂家的英文样本中也无该词出现。 实际上“全谱直读”是中文广告词,它不严谨.并含糊地影射二方面意思: I.光谱谱线的全部覆盖性和全部可利用性; 2全都谱线的总体信号同时采集读出。 从中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的光谱范围(英文常采用Wavetength coverage range)来看,一般仪器都在160~800 m左右。如有的仪器在167--782 ran,有的在165~800 ran,有的在175~900 nm,有的在165~1 000 nm,有的是在122~466 ran基础上另加590,670,766 nm的额外单个检测器。有的在超纯Ar装置下短波段区扩展至134ran,其长波段区能扩展至1 050 ran。很明显所有此类仪器的光谱范围目前离。全谱”还是有距离的.而且仪器厂家还在扩大其光谱范围。再说此类仪器的。光谱范围。,实际上更确切的意思是指可利用的分析谱线波长跨度范围! 实际上中阶梯光栅和棱镜所形成的二维光谱图在目前固态检测器芯片匹配过程中,高级次光谱区可以说是波长连续的.不同级次的光谱波长区甚至重叠。而低级次光谱区级次与级次之间的波长区并不衔接,最大可以有20 nm以上的问隙.其间晾随着级数增大而变小.严格地说也就是仪器的光谱不连续性存在.尽管对有用谱线影响并不太大。另外中阶梯光栅多色器系统产生的二维谱图闪烁区与检测器芯片匹配的边缘效应.固态检测器的分段或分个处理.都会造成使用全部谱线的困难,甚至发生有用谱线的丢失。大面积的固态检测器芯片可望用于光谱仪.光谱级次问波长区的连续性会进一步改善,其波长区复盖也会增大。但仪器制造成本及芯片因光谱较次间波长过多重叠显得利用效率不高,都会形成其发展的阻力。   从仪器可利用谱线上看,目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还其能是多谱线同时分析仪器。当然它可利用的谱线要比以前多道发射光谱仪器的谱线(最多六十多条)多得多。如目前仪器有6 ooo多条的.有2万7千条的,有在2万4千条的基础上再可由使用者在仪器波长区任意定址添加的等等。但这与“垒谱”给人的含糊概念,与数十万以上的全部谱线概念相差甚远。就是从全部可利用谱线讲,该类仪器在定量分析时也不等于纪录全部谱线。有的仪器是在定性分析时能纪录所有覆盖谱线。 “全谱直读”一词还常常被橱伸到一次曝光像摄谱仪一样工作。直读一词(Di嫩1 reading)出现在摄谱仪之后、光电倍增管用于发射光谱仪之时。是相对摄片.读片过程变成一步而言。多道发射光谱仪采用该词较多。目前中阶梯光播固态检测器等离子体发射光谱仪还没有完全达到全部谱线的总体信号同时采集读出的水平。有的仪器分检测器读出,有的仪器分波长区读出,有的仪器分波长区检测器再加几个单个波长检测器读出。固态检测器的曝光与摄片又不同,固态检测器比照相底片更灵活.为了适应样品分析元素高低浓度太小信号的要求,固态检测器灵活处理,有的分区曝光,有的分级扫描曝光,有的级中分二段控制曝光,有的检测器分子阵列(~bm&#39;ray)控制曝光,有的从其检测器机理出发分每个感光点(Pixel)控制曝光。   “全谱直读”给人是含糊的印象,不能正确反映仪器的特点。 当前新的仪器还在不断涌现,有分级扫描式中阶梯光播固态检测器等离子体发射光谱仪,有新的多个固态检测器在罗兰圈排列使用的仪器,从检测器硬件结构分类,它们都能方便地归人中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,或固态检测器等离子体发射光谱仪类别里。而“全谱直读”则明显不能适应。 新名词会受到实践和事实的考验。国外文献中名词也有变化的.如电感耦合等离子体原子发射光谱仪的ICP-AES英文缩写名词,因AES含义面广,易与俄歇电子光谱“0混淆,现在逐渐被ICP-OES取代。切人实际的名词才会在发展中生存 .
.德国斯派克分析仪器公司.&#91;引用日期&#93;
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