你好 我用单片机 通过过零检测产生中断 控制可控硅 但是 灯总是闪_百度知道
你好 我用单片机 通过过零检测产生中断 控制可控硅 但是 灯总是闪
原理是这样的
我用P3.2口检测零点
用定时器0 延时 接通MOC3023
关掉MOC3023
过零检测图和可控硅原理图在下面
中断程序如下:
其中的WD是全局变量
调光的明暗的
void t0() interrupt 1
// 开中...
在不同的档位
光的明暗还是有变化
只不过不管在那个档位都有不同程度的闪
我有更好的答案
你的延时是不是有问题？？单片机的定时器是不是向上计数的？怎么我看你程序觉得你用向下计的呢？ 还有看你程序似乎是：（moc30=0）先开启可控硅然后根据dw的数值去决定延时多少再关控制信号（moc30=1）,但是有一点是,可控硅若不是可控关断的话,就有问题了,普通可控硅是开通之后只要有电流就不会关断,它只会在交流电过零时自动关断.要想达到调光效果,可以这样控制:过零检测后开始延时(根据dw的数值),延时到后开启可控硅,然后必须在交流电再次过零前撤消控制信号,以便可控硅过零时关断,当再检测到过零信号再重复上面的控制就可以了,也就是说你的控制信号是100HZ的脉冲才得.
我的原理和你的差不多,用T0接通MOC30,T1关掉MOC30,就是为了在过零前撤消控制信号
只不过你说的什么向下计和向上计
,单片机都是向上计数吧
,我都没有听说可以向下计?用这样的方法调光能不能实现,还是我硬件或软件有问题,有没有人用我类似的方法成功过...
S系列的单片机计数器可以配置成向下计的啊!你那个灯闪的问题我觉还是程序的问题,因为你用的那个应该是双向的可控硅吧,如果按正常来说,闪的频率应该达到100HZ,人眼是分不出来的．你看看是不是脉冲的时间太长了，超过了零点没撤消？
采纳率：27%
还是程序问题，在那个可控硅的开关状态那个环节考虑考虑，仔细分析开过是否又错关闭了
原理没错，程序逻辑也没有错，检查一下硬件电路吧，灯只工作半个周期，50HZ，应该会闪才对
就是因为闪才提问的啊
有什么解决方法吗
有示波器量一下最好，因为现还不好确认可控硅工作正常了吗，刚才考虑了好久，感觉都没什么错误，逻辑、电路参数，电路结构好像都没错，测测吧，顺着信号走没有解决不了的问题，看样子楼主也是位高手，这点小问题应该难不住你，光想是没用的，测测吧，很轻松就能搞定
控制端需加二极管
你说的是P1.6控制MOC3023那里吗
还是别的地方吗
和以前一样
我想问的是继电器起什么作用？求解答谢谢
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基于单片机的过零检测控制系统的设计
&&主要研究过零检测原理及电路设计,以此来控制可控硅导通角,达到控制电机转速的目的
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求一个，单片机220伏可控硅过零检测，实现不同延时的程序
用继电器控制很能难实现过零的，因吸合时有延时。用对继电器控制适合于功率不大的设备，1KW以内还可以，也不用过零检测。控制的设备功率再大了最是要过零检测了。用继电器可以免去隔离了，而且控制也容易，单片机控制一个三极管，再由三极管去驱动继电器，如果继电器很多的话，用三极管有点麻烦，就用ULN2803，一片可以控制8个继电器。要是用可控硅控制最好有过零检测，但必须要用光电隔离了。要实现过零检测，要是外加检测电路是很麻烦的。既然加光电隔离，不如将过零检测和光电隔离合二为一，有一种光耦，叫MOC3803，资料在百度文库里就能下载。里面即有怎么用，也有怎么连接电路，非常适合用于单片机上控制交流设备。单片机（Microcontrollers）是一种集成电路芯片，是采用超大规模集成电路技术把具有数据处理能力的中央处理器CPU、随机存储器RAM、只读存储器ROM、多种I/O口和中断系统、定时器/计数器等功能（可能还包括显示驱动电路、脉宽调制电路、模拟多路转换器、A/D转换器等电路）集成到一块硅片上构成的一个小而完善的微型计算机系统，在工业控制领域广泛应用。从上世纪80年代，由当时的4位、8位单片机，发展到现在的300M的高速单片机。
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怎么传给你?
你说的也可以驱动可控硅 不过在过零的时候开通可控硅 可以让可控硅不产生脉冲干扰 还可以让可控硅不受大...
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基于51单片机的可控硅调压调光程序-带过零检测
[摘要]&&&&&&&&这是一个用51单片机通过过零检测来调整可控硅的导通角从而实现调光调压，其中过零电路用一个p620光耦，220v这端的电阻是40k，这是一个已经有成熟应用的例子。
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图2 A、B两点电压输出波形
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