热敏电阻在什么中出现稳定性可靠性,跟踪性,可靠性,可简化什么设计复杂性?

在设计温度检测电路时重要的昰不要付出超过实际需要的电量。通过了解应用的要求可以得到最佳的温度传感器选择,在不影响性能准确性或可靠性的情况下最大限度地降低成本。当NTC芯片热敏电阻用于温度测量应用时选择传感器时需要考虑几个因素。

在设计温度检测电路时重要的是不要付出超過实际需要的电量。通过了解应用的要求可以得到最佳的,在不影响性能准确性或可靠性的情况下最大限度地降低成本。当NTC芯片热敏電阻用于温度测量应用时选择传感器时需要考虑几个因素。它们在下表中列出


影响温度传感器选择的因素

温度传感器选择的影响因素圖表

一、温度范围选择时的首要考虑因素是温度范围。例如对于超过1000℃的操作环境,热电偶通常是唯一的选择但是,只有少数应用涉忣这种极端温度

对于大多数工业、医疗、汽车、消费者和通用嵌入式系统,典型的工作温度范围要窄得多当使用基于半导体的组件时,范围甚至更有限例如,用于商业和消费类应用的MCU的额定温度为0℃至85℃用于工业应用的MCU可将范围扩展至-40°C至100℃,而汽车MCU需要在-40℃至125℃嘚温度范围内工作因此,工程师通常可以选择使用任何标准类型的温度传感器

二、封装甲温度检测组件需要不同的包装,取决于正在測量例如,基于半导体的传感器不能直接浸入热油中

低成本传感器可以通过环氧涂层保护。对于更高温度的操作温度传感器可以密葑在玻璃中。这也可以保护他们免受其他环境因素的影响包括液体和碎屑。传感器可放置在不锈钢外壳中以提高稳定性可靠性。外壳所需的复杂程度越高传感器的成本就越高。

传感器还有各种形状和尺寸 为应用选择合适的传感器可以提高性能,响应能力和可靠性 唎如,所有温度传感器由于通过它们的功率而经受自加热这种自加热会提高传感器周围的环境温度,从而引入误差并对精度产生负面影響

使用,可以增加传感器的质量以减少由于自加热引起的误差。 即使是小尺寸的变化也会对减少自热产生很大影响例如,与2 x 2 x 2 mm热敏电阻相比3 x 3 x 3 mm热敏电阻的体积/质量大于3倍。只有热敏电阻才能实现这种灵活性基于半导体的传感器本质上是固定的。由于RTD和热电偶都是以电線为基础的这限制了工程师调整质量以减少自热误差的能力。

三、稳定性可靠性温度传感器会随着时间的推移而漂移具体取决于所使鼡的材料,结构和包装例如,涂有环氧树脂的NTC热敏电阻每年变化0.2℃而气密密封的变压器仅变化0.02℃ /年。铂RTD也具有出色的稳定性可靠性:薄膜为0.05℃ /年全线为0.002℃ /年。热电偶和基于半导体的传感器在1℃ 和 2℃ /年时的稳定性可靠性都要低得多

在需要运行多年的应用中,稳定性可靠性非常重要如果系统可以不时地进行校准,则可以减轻稳定性可靠性的影响尽管这需要在引入维护复杂性和成本方面进行权衡。理想情况下系统的稳定性可靠性足以延长整个预期的使用寿命。

四、准确性如果没有可靠的检测电路温度控制和补偿功能的质量和可靠性就会降低。有几个因素会影响温度检测电路的精度包括分辨率和响应性。对于需要精确温度控制的应用精度显然是一个问题。然而在温度仅是可靠性问题的应用中,精度也可以具有实质性

考虑一个采用风扇的嵌入式系统,以防止MCU过热从而失去可靠性。只要超过仩限风扇就会打开。如果使用低成本热电偶测量精度最高可达5℃。此外这种热电偶的响应性大约为20秒。这意味着当超过上限阈值时温度可能会在系统注册更改之前稳定上升20秒。预防措施可能还需要额外的时间来付出努力此外,在1℃ /年的稳定性可靠性下预计运行10姩的设备将需要考虑另一个潜在的10℃变化。

在选择上限阈值温度时工程师必须考虑到这个基于热电偶的探测器电路可能在系统真正的5 °C囷20秒后面。精确度问题的一个解决方案是在制造期间校准检测电路然而,这增加了不希望的费用

更常见的是,工程师会将上限阈值降低到这样一个水平:为了补偿5℃的变化和20秒的延迟系统的可靠性极限超出其可靠性限制的可能性更小。然而较低的阈值意味着预防措施将比使用更准确和响应更快的检测电路更快地制定。这就像你不需要的时候运行A / C. 这种过度使用会影响风扇的可靠性并消耗比必要的更多功率

的NTC热敏电阻能够实现基本的传感器类型的-50℃至250内的最高准确性℃温度范围内。精度范围从0.05到1.5具有高长期稳定性可靠性,具体取决於所用传感器和包装的类型 NTC热敏电阻还具有出色的响应能力,订购量为0.12至10秒相比之下,铂RTD或基于半导体的探测器的响应速度非常慢汾别为1至50秒和5至60秒。当其他组件记录到温度变化时基于NTC热敏电阻的电路已经使系统能够采取纠正措施。

结果是使用NTC热敏电阻,工程师鈳以选择更严格的上限阈值优化风扇可靠性和功耗。此外由于其快速的响应性和宽输出电阻的动态范围,NTC热敏电阻即使在很小的温度范围内也能非常精确这使它们在各种嵌入式应用中具有极强的通用性。

还有其他因素会影响精度包括对电噪声和引线电阻的敏感性(即从温度传感器组件中引出的引线产生的噪声)。虽然热电偶不受导线电阻的影响但它们最容易受到电噪声的影响,尤其是冷端热电偶基于半导体的传感器也没有耐铅电阻,但对电噪声的抗扰性取决于电路板布局 铂RTD对电噪声相当不敏感但它们非常容易受到铅电阻噪声嘚影响,特别是在3线和4线配置中NTC热敏电阻由于其初始电阻非常高,因此对电噪声和引线电阻具有出色的抗噪性

六、成本温度检测电路嘚成本通常随着 特定传感器类型的精度的提高而上升。更强大的包装也会增加成本对于温度范围为-50°C至250℃的应用,铂RTD的成本最高可达6美え基于半导体的传感器是第二高的,约为0.9美元热电偶以低成本着称,但实际上成本适中为0.5美元。对于密封的玻璃封装传感器 NTC热敏電阻的成本最低,低于0.2美元如果应用不需要密封传感器, NTC热敏电阻的体积可能低于0.5美元

原标题:关于热敏电阻器几个常見可靠性实验的加速寿命实验实施办法

摘要:通过阿伦尼乌斯(Arrhenius)模型、HAST实验标准、Coffin Manson模型确定高温类实验、湿热类实验、温度变化类实验嘚加速寿命实验原则大幅缩短实验周期、提升产品可靠性评估效率、降低实验成本。

关键字:加速寿命实验阿伦尼乌斯(Arrhenius)模型,Coffin Manson模型HAST实验。

中图分类号:TN306 文献标识码:A

热敏电阻器是一种温度敏感元件在不同的温度下表现出不同的阻值特性,分为正温度系数热敏电阻器(PTC)和负温度系数热敏电阻器(NTC)热敏电阻器在开展可靠性认证实验的过程中, 一般针对高温实验、湿热实验、温度变化实验等三種类别的长寿命实验其标准实验时间为1000小时或以上,如下表1所示在需要快速评估热敏电阻器的可靠性时,这个实验时间大大影响了评估效率因此需要应用加速寿命理论模型或实验标准对该类别的长周期可靠性实验项目实施加速,达到缩短实验周期的目的加速寿命实驗为快速评估产品可靠性提供了一种依据,但由于加速系数受产品类别、失效模式、失效机理、应力类别等因素影响很大并不能与热敏電阻器的标准实验条件建立准确的对应关系,所以在应用时要特别加以注意

表1 热敏电阻器长周期寿命实验

加速寿命实验条件的选择

我们對热敏电阻器的高温实验、湿热实验、温度变化实验等三种类别的长寿命实验的加速寿命实验实施条件说明如下:

1.实验依据。高温类加速壽命实验所依据的理论模型为阿伦尼乌斯(Arrhenius)模型在某一环境下,当温度成为影响产品老化及使用寿命的绝对主要因素时采用单纯考慮热加速因子效应而推导出的阿伦纽斯模型来描述测试,其预估到的结果会更接近真实值模拟试验的效果会更好。阿伦纽斯模型关于加速系数的计算公式是:

Ea是析出故障的耗费能量又称激活能。不同产品的激活能是不一样的一般来说,激活能的值在0.3eV~1.2eV之间;

TL是低应力条件下(非加速状态下)的温度值此处的温度值是绝对温度值,以K(开尔文)作单位;

TU是测试条件下(加速状态下)的温度值此处的温度值是绝对温喥值,以K(开尔文)作单位

根据该理论模型,相关教材、论文已将其简化为“10℃法则”即温度每升高10℃,器件寿命缩短一半换句话说,溫度每升高10℃其实验时间所代表的寿命增加一倍。

Ti:加速条件下的器件本体温度(含自温升);

T0:标准条件下的器件本体温度(含自温升)

当然,由于各种材料对应的各种失效模式的电子激活能Ea是不同的一般热敏电阻器寿命减半的温度范围为5℃~20℃,因此有时还可以使用鉯下两个公式估算加速系数

2.如何确定加速条件?实验温度:选择高于标准实验温度但不产生新的失效模式和失效机理的温度条件;实验時间:根据加速系数和选定的实验温度将标准实验时间折算为加速时间假设标准实验条件为“85℃,1000h”选定的加速实验温度为“125℃”,那么根据“10℃法则”算得加速系数为16那么加速实验时间为62.5h,则最终确定的加速实验条件为“125℃62.5h”。

(HAST)》的规定推荐的HAST实验条件如下表2,1000h的湿热实验均可以用此实验取代常规条件进行加速实验该实验需要使用专用的HAST实验箱,应根据器件的承受极限选择采纳条件1还是条件2在使用HAST实验条件的时候需要注意,由于该实验条件会降低含树脂材料的热敏电阻器内部的树脂软化点会出现能通过双八五实验而不能通过HAST实验的情况。

1.实验依据高低温冲击实验的理论模型可以参照Coffin Manson模型,该模型在研究机械性失效、材料疲劳、材料变形等方面有非常成功的应用其计算公式如下:

项1:温度变化幅度的加速作用

项2:温变频次的加速作用

项3:最高温的加速作用

NL:低应力水平温度变化作用的溫循寿命次数

NH:高应力水平温度变化作用的温循寿命次数

△TH:高应力水平温度变化作用的温差幅度

△TL:低应力水平温度变化作用的温差幅喥

fL: 低应力水平温度变化作用的单位时间内温变频次,以“循环/小时”或“循环/天”记

fH: 高应力水平温度变化作用的单位时间内温变频次以“循环/小时”或“循环/天”记

TKL:低应力水平温度变化作用的最高温绝对温度,记开尔文温度°K

TKH:高应力水平温度变化作用的最高温绝对溫度,记开尔文温度°K

2.如何确定加速条件?实验温度:选择高于标准实验温度范围但不产生新的失效模式和失效机理的温度条件;循环佽数:根据选定的加速实验条件和以上公式5确定比如标准实验条件为“-40℃/保温(30min)→+85℃/保温(30min),1000循环”加速实验条件为“-55℃/保温(30min)→+125℃/保温(30min)”,根据相关研究上式取a=-1/3,b=2同时结合阿伦纽斯模式的简化模式算得的加速系数AF为33.18,实验循环次数约为31次那么最终确定的加速寿命实验條件为“-55℃/保温(30min)→+125℃/保温(30min),31循环”

由于加速寿命实验的准确性问题,它的实验结果是定性的而不是准确定量的因此还不能完全取代标准实验而存在,否则会给客户带来困扰因此需要明确加速寿命实验在的应用原则。推荐原则如下:

a) 所选择的实验应力不应超出热敏电阻器的承受上限不能因为提高实验应力而产生新的失效模式。

b) 一般在热敏电阻器的样件研制阶段为快速了解样品可靠性,为产品开发设計定型提供依据时或其他需要快速了解热敏电阻器可靠性的时候使用加速寿命实验而在试生产鉴定、例行可靠性监控、工程变更鉴定等需要需要完全遵循标准开展实验鉴定的场合,不推荐使用加速寿命实验

c) 为避免资源浪费,不能随意制定实验条件应使用企业内部实验室专业的可靠性工程师推荐的加速实验条件。这也是为了避免太多的实验条件占用太多的实验资源造成资源浪费。

d) 应根据实测结果不断修正加速寿命实验模型参数使得定性模型不断向定量模型靠拢。

a) 卢昆详.电子元器件可靠性实用指南[M]上海:中国电子元件工业质量管理協会,

b) 姜同敏.可靠性与寿命实验[M]北京,国防工业出版社:33-37

注:该文章发表于中国核心期刊《环境技术》2018年第4期


功率降额是在相应的工作温度下嘚降额即是在元件符合曲线所规定环境温度下的功率的进一步降额,采用P=V?/R公式进行计算

为了保证电阻器的正常工作,各种型号的电阻厂家都通过试验确定了相应的降功率曲线因此在使用过程中,必须严格按照降功率曲线使用电阻器

当环境温度定于额定温度时(T<Ts)鈳以施加60%额定功率,不需要考虑温度降额当环境温度高于额定温度的时候,需要考虑温度降额应该进一步降额功耗使用,

Tmax是零功耗时朂高环境温度


不同厂家,电阻脉冲功耗和稳态功率的转换曲线不同具体应用时,要查询转换缺陷将瞬态功率转换为稳态功率,然后茬此基础上降额

厂家额定环境温度为70℃,低于这个温度的时候直接按照60%进行降额。当超过这个温度的时候额定曲线是一个斜线。降額曲线也按照最大温度的降额为121℃,然后绘制一条红色的斜线按照斜线进行降额。

瞬态降额 只要时间足够短电阻可以承受比额定功率大得多的瞬态功率。要参考厂家资料中的最高过负荷电压参数再在此基础上降额。

1、合成型电阻器 1.1 概述

合成型电阻器件体积小过负荷能力强,但它们的阻值稳定性可靠性差热和电流噪声大,电压与温度系数较大

合成型电阻器的主要降额参数是环境温度、功率和电壓。

a) 合成型电阻为负温度和负电压系数易于烧坏。因此限制其电压是必须的

b) 在潮湿环境下使用的合成型电阻器,不宜过度降额否则潮气不能挥发将可能使

c) 热点温度过高可能导致合成型电阻器内部的电阻材料永久性损伤。

d) 为保证电路长期工作的可靠性 电路设计应允许匼成型电阻器有±15%的阻值容差。

合成型电阻器的降额准则见下表


2、薄膜型电阻器 2.1 概述

薄膜型电阻器按其结构,主要有金属氧化膜电阻器囷金属膜电阻器两种

薄膜型电阻器的高频特性好,电流噪声和非线性较小阻值范围宽,温度系数小性能稳定,是使用最广泛的一类電阻器

薄膜型电阻器降额的主要参数是电压、功率和环境温度。

a) 各种金属氧化膜电阻器在高频工作情况下 阻值均会下降 (见元件相关詳细规范) 。

b) 为保证电路长期工作的可靠性设计应允许薄膜型电阻器有一定的阻值容差,金属膜电阻器为±2%金属氧化膜电阻器为±4%,碳膜电阻器为±15%


电阻网络装配密度高,各元件间的匹配性能和跟踪温度系数好对时间、温度的稳定性可靠性好。

电阻网络降额的主要參数是功率、电压和环境温度

为保证电路长期工作的可靠性,设计中应允许电阻网络有±2%的阻值容差


4、线绕电阻器 4.1 概述

线绕电阻器分精密型与功率型。线绕电阻器具有可靠性高、稳定性可靠性好、无非线性以及电流噪声、温度和电压系数小的优点。

线绕电阻器降额的主要参数是功率、电压和环境温度

a) 在 II 级降额应用条件下,不采用绕线直径小于 0.025mm 的电阻器

b) 功率型线绕电阻器可以经受比稳态工作电压高嘚多的脉冲电压, 但在使用中应作相应的降额见附录 D(参考件)。

c) 功率型线绕电阻器的额定功率与电阻器底部散热面积有关 在降额设計中应考虑此因素。见附录 E(参考件)

d) 为保证电路长期工作的可靠性,设计应允许线绕电阻器有一定的阻值容差:精密型线绕电阻器为 ±0.4%;功率型线绕电阻器为 ±1.5%


敏电阻器具有很高的电阻—温度系数(正或负的)。

敏电阻器降额的主要参数是额定功率和环境温度

a) 負温度系数型热敏电阻器,应采用限流电阻器防止元件热失控。

b) 任何情况下即使是短时间也不允许超过电阻器额定最大电流和功率。

c) 為保证电路长期可靠性的工作设计应允许热敏电阻器阻值有±5%的容差。


额定电压:由阻值和额定功率换算出的电压

最高工作电压:尣许的最大连续工作电压。在低气压工作时最高工作电压较低。

老化系数:电阻器在额定功率长期负荷下阻值相对变化的百分数,它昰表示电阻器寿命长短的参数

电压系数:在规定的电压范围内,电压每变化1伏电阻器的相对变化量。

噪声:产生于电阻器中的一种不規则的电压起伏包括热噪声和电流噪声两部分,热噪声是由于导体内部不规则的电子自由运动使导体任意两点的电压不规则变化。

在高于绝对0°(-273℃或Ok)的任何温度下物质中的电子都在持续地热运动。由于其运动方向是随机的任何短时电流都不相关,因此没有可检測到的电流但是连续的随机运动序列可以导致Johnson噪声或热噪声。电阻热噪声的幅度和其阻值有下列关系;

式中Vn是噪声电压,以V为单位;Kb昰玻尔兹曼常数1.38×10(-23)J/K;T是温度,以K为单位;R是电阻以Ω为单位;B是带宽,以Hz为单位

二、对电阻寿命影响的因素 1.温度,温度过高可以很快使其烧毁

2.环境的酸碱度,直接腐蚀电阻导致其损坏

3.外力,超过一定的力的限度,电阻就会断裂

所以要是电阻寿命延长,散热要好,防止烧毁,环境要干燥,无污染物,避免外力作用。

电阻值大的电阻寿命相对会长

1M欧的电阻阻值很高,在低压中使用时由于功率消耗少,工作环境影响甚微,一般寿命嘟很长,不需要特别注意(相对其他如电解电容等元件)。有问题大都是在高压工作时产生的

高压工作时,电阻的制造工艺、使用材质都有楿当的要求.要考虑使用功率往往会用到最大的可能(电阻的安全功率值是实际工作功率的两倍以上,有些产品设计不当,往往使用功率和电阻额萣功率值过于接近);所以温度的耐受能力是最基本的要求。而瞬间脉冲电压和涌浪电流也会对电阻造成致命的打击,对于引脚焊接不良,绝緣制程有瑕疵的产品,不用多久就崩溃烧毁.正确使用的电阻,使用寿命在10万小时以上不成问题

所以像1M欧这样的高阻值电阻是有区分高压和一般用途的.高压专用的电阻价格比一般电阻高数倍,不过电阻终究是低价元件,而且在高压使用的电阻数量不是很多。对于高压大电流的场景留有足够的降额设计,有效提高电阻的寿命


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