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可控硅损坏原因分析
&&一种可控硅损坏原因的分析及解决方案
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可控硅整流电路中在可控硅后面串联一个电感是什么作用
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可控硅整流电路中在可控硅后面串联一个电感是什么作用？有的还并联一个电容。
C1和L1，是可控硅保护元件,用以吸收脉冲电压,（电流）防止击穿可控硅。
[ 本帖最后由 XJZHANG 于
12:32 编辑 ]
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防止电流波动快和波动大造成可控硅损坏或误动作等，保证导通换流可靠截至，另具有平波作用。
[ 本帖最后由 ysxg 于
12:22 编辑 ]
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回复 1楼 XJZHANG 的帖子
并联电容可防止换相过电压
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关于可控硅调压电路的疑问？
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可控硅调压电路2-q.jpg (35.73 KB, 下载次数: 8)
15:10 上传
上图是百度得来的一个标准双向可控硅调压电路，本人是电路小白，不懂。
A：请问图中1和2是两个元件，还是一个元件？
B：请问 T1 、T2、R分别是哪个地方？
C：T1、T2有方向吗？是T1接在电容这边，还是T2接在电容这边？
D：怎么测量可控硅的好坏？我买了一个成品可控硅电路，发现不起作用，测量AC1和AC2发现是0电阻，这是不是所谓的可控硅损坏？
E：双向可控硅芯片通用吗？某宝上出售的 大功率双向可控硅Q6016LH6& &可以买来替换我的那个损坏的可控硅芯片吗？
这是我购买的可控硅调压板，初步判断已损坏：
成品电路.jpg (79.34 KB, 下载次数: 8)
15:16 上传
这是某宝出售的大功率双向可控硅Q6016LH6图片
1.jpg (42.67 KB, 下载次数: 8)
15:13 上传
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签到天数: 5 天[LV.2]偶尔看看I
可控硅芯片怕静电吗，用白菜白光焊接的时候是不是容易被击穿？
最好网上搜可控硅的型号，参数差不多应该可以兼容的。&
签到天数: 5 天[LV.2]偶尔看看I
一般什么原因会造成可控硅芯片损坏？
电流过大？静电？
签到天数: 17 天[LV.4]偶尔看看III
一双向可控硅，二触发二极管，最容易坏的是双向可控硅，通常是功率不够，其次是充电电容。二十年前自制过好多用来给2000w电炉丝调温的
签到天数: 146 天[LV.7]常住居民III
可控硅芯片怕静电吗，用白菜白光焊接的时候是不是容易被击穿？
最好网上搜可控硅的型号，参数差不多应该可以兼容的。
签到天数: 17 天[LV.4]偶尔看看III
直接买BTA16-600的质量比较好，日常用功率足够了
已下单买了5颗 BTA20-600B
回来试试效果。&
签到天数: 17 天[LV.4]偶尔看看III
可控硅不怕静电的，何况你用白光更没事
签到天数: 5 天[LV.2]偶尔看看I
直接买BTA16-600的质量比较好，日常用功率足够了
已下单买了5颗 BTA20-600B&&回来试试效果。
签到天数: 5 天[LV.2]偶尔看看I
现在的疑惑就是T1和T2分别对应电路图上的哪个点。
签到天数: 6 天[LV.2]偶尔看看I
1，是双向可控硅，2，是双向触发二极管，这个一般是蓝色的，外观大小像一个玻璃封装的1N4148开关二极管
签到天数: 5 天[LV.2]偶尔看看I
可控硅调压电路2-T1T2G.jpg (33.43 KB, 下载次数: 0)
18:09 上传
关于可控硅三个脚的标注，对否？
签到天数: 323 天[LV.8]以坛为家I
量g极电阻,不通是t2,t1与g电阻很小，但0应该是坏了
签到天数: 99 天[LV.6]常住居民II
1是双向可控硅，有3个脚，2是双向触发二极管，常见的型号是DB3。家里的电热器坏了，拆开检测是DB3坏了，3元买了100只，一辈子都用不完了。双向可控硅一板不容易损坏，拆的电热器里面的可控硅用了快20年，工作环境恶劣也没坏，管脚的锡都有融化的痕迹。
以上言论纯属个人观点，与手电大家谈立场无关。
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可控硅损坏原因及关断与导通性能诊断仪研究
　　[摘 要]单向可控硅是一种可控整流电子元件，能在外部控制信号作用下由关断变为导通，但一旦导通，外部信号就无法使其关断，只能靠去除负载或降低其两端电压使其关断，目前主要采用的是万用表测试法：可控硅是三端半导体器件，依据PN结“正向导通，反向截止”的单向导电的特性，可用万用表欧姆档来测试可控硅三个电极之间的阻值，就可以初步判断可控硅的好坏，本文章公开一种单项可控硅关断与导通性能诊断仪，其可以进行测试大小不一的可控硅，其测试步骤简单，测试效果准确，同时简单列举几项容易导致可控硅损坏的原因，对于正确判断可控硅导通故障并排除故障有着一定的指导意义。 中国论文网 http://www.xzbu.com/1/view-6206758.htm　　[关键词]可控硅 、损坏 、诊断仪 结构 　　中图分类号：R443+.8 文献标识码：A 文章编号：X（0-01 　　1 内容 　　1.1 可控硅简介 　　单向可控硅是一种可控整流电子元件，能在外部控制信号作用下由关断变为导通，但一旦导通，外部信号就无法使其关断，只能靠去除负载或降低其两端电压使其关断。单向可控硅是由三个PN结PNPN组成的四层三端半导体器件与具有一个PN结的二极管相比，单向可控硅正向导通受控制极电流控制；与具有两个PN结的三极管相比，差别在于可控硅对控制极电流没有放大作用。 　　可控硅导通条件：一是可控硅阳极与阴极间必须加正向电压，二是控制极也要加正向电压。以上两个条件必须同时具备，可控硅才会处于导通状态。另外，可控硅一旦导通后，即使降低控制极电压或去掉控制极电压，可控硅仍然导通。 可控硅关断条件：降低或去掉加在可控硅阳极至阴极之间的正向电压，使阳极电流小于最小维持电流以下。 　　1.2 容易导致可控硅损坏的原因 　　（1）设备在运行时负载开路：当设备正在大功率运行时，如果突然负载处于开路状态，将在输出端形成高压，会烧坏可控硅元件。 　　（2）设备在运行时负载短路：当设备正在大功率运行时，如果负载突然处于短路状态，将对可控硅有一个很大的短路电流冲击，若过电流保护动作不不及保护，将烧坏可控硅元件。 　　（3）电抗器故障：电抗器内部打火造成逆变侧的电流断续，也会在逆变输入侧产生高压烧坏可控硅。另外，如果在维修中更换了电抗器，而电抗器的电感量、铁芯面积小于要求值，会使电抗器在大电流工作时，因饱和失去限流作用烧坏可控硅。 　　（4）保护系统故障（保护失灵）：可控硅能否安全，主要是靠保护系统来保证的，如果保护系统出现故障，设备稍有一点工作不正常，将危及到可控硅安全。所以，当可控硅烧坏时对保护系统的检查是必不可少的。 　　（5）脉冲触发回路故障：在设备运行时如果突然丢失触发脉冲，将造成逆变开路，中频电源输出端产生高压，烧坏可控硅元件。这种故障一般是逆变脉冲形成输出电路故障，可用示波器进行检查，也可能是逆变脉冲引线接触不良，可用手摇晃导线接头，找出故障位置 　　1.3 解决可控硅的误触发 　　可控硅触发电压过低，触发电流过小，可控硅触发困难，这不是我们所希望的，但是触发电压过高，触发电流过大，又容易引起可控硅的误触发即抗干扰能力吃，这又是我们要避免的，解决方法如下，（1）尽量避免电感元件靠近可控硅控制回路，（2）屏蔽可控硅控制极电路，（3）在可控硅阴极与控制极之间并联一只电容，（4）在控制极加上反向偏置电压。 　　1.4 判断可控硅好坏的方法 　　目前主要采用的是万用表测试法：可控硅是三端半导体器件，依据PN结“正向导通，反向截止”的单向导电的特性，可用万用表欧姆档来测试可控硅三个电极之间的阻值，就可以初步判断管子的好坏。 　　1.5 新型诊断仪的结构 　　单项可控硅关端与导通性能诊断仪的结构主要包括触发电路、检测电路和断路器，触发电路上设有第一转换开关、变压器、桥堆，断路器火线通过第一转换开关与变压器一次侧火线端子连接，断路器零线与变压器一次侧零线端子连接，变压器二次侧与桥堆交流侧分别连接，桥堆直流侧正极与可控硅门极连接，桥堆直流侧负极与可控硅阴极连接，检测电路包括第二转换开关、直流电源、电位器、灯泡，断路器火线通过第二转换开关与直流电源火线连接，直流电源输出的直流电正极通过电位器与可控硅阳极连接，断路器零线与直流电源零线连接，直流电源输出的直流电负极通过灯泡与可控硅阴极连接。可控硅放置位置，设有可控硅放置盒，可控硅放置盒，由铜板和绝缘板组成，第一铜板设于第一绝缘板内侧且固定为一体，第二铜板设于第二绝缘体内侧且固定为一体，第一绝缘板与第二绝缘板之间通过螺栓活动连接，第一铜板与可控硅阳极连接，第二铜板与可控硅阴极连接，绝缘板外侧分别设有连接线，连接线穿过绝缘板与铜板连接。 　　1.6 可控硅诊断仪诊断方法 　　操作第二转换开关，使之通电，如果灯泡亮，则可控硅坏，非门极可控。如果灯泡不亮，则不能判断可控硅坏，在上一步操作基础（灯泡不亮），操作第一转换开关，使之通电，如果灯泡不亮，说明可控硅坏，不能触发使其导通 ；如果灯泡亮，说明可控硅导通性能正常，门极可控，上一步检测正常的基础上，操作第一转换开关 1，使之断电。如果灯泡随之熄灭，则可控硅维持导通性能不好，不可用 ；如果灯泡继续保持不灭，则可控硅维持导通性能好，可控硅正常。上一步检测正常的基础上，旋转电位器，使电位器电阻逐渐增大，当电阻逐渐增大时如果灯泡熄灭，说明可控硅性能好，可以正常关断 ；如果灯泡不灭，说明可控硅关断性能不好，不能投入使用。 　　2.总结 　　本文章公开一种单项可控硅关断与导通性能诊断仪，其可以进行测试大小不一的可控硅，其测试步骤简单，测试效果准确，对于正确判断可控硅导通故障并排除故障有着一定的指导意义。 　　参考文献 　　[1] 余恭华.《家庭电子》 判断可控硅好坏的两种方法1997年06期. 　　[2] 高杉.《硅谷》.可控硅故障判断及其处理措施 2014年第三期. 　　[3] 姜天林.《科技创新与应用》可控硅的使用及其方法2014年第六期.
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