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在杨氏双缝实验中，如果S1和S2为两个普通的独立的单色线光源，用照相机能否拍出干涉条纹照片？如果曝光时间比1
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在杨氏双缝实验中，如果S1和S2为两个普通的独立的单色线光源，用照相机能否拍出干涉条纹照片？如果曝光时间比10-8s短得多，是否有可能拍得干涉条纹照片？
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1在水波干涉图样中，平静水面形成的曲线是双曲线。为什么?2把一对顶角很小的玻璃棱镜底边粘贴在一起(图21-2)做成“双棱镜”，就可以利用一个普通缝光源S来做双缝干涉实验(菲涅耳双棱镜实验)。试在图中画出相干光源的位置和它们发出的波的叠加干涉区域。&&3如果两束光是相干的，在两束光重叠处总光强如何计算?如果两束光是不相干的，又怎样计算?(分别以I1和I2表示两束光的光强。)4观察肥皂液膜的干涉时，先看到彩色图样，然后图样随膜厚度的变化而改变。当彩色图样消失呈现黑色时，肥皂膜就要破裂，为什么?
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A．物体的影子边缘发虚，是由于光的干涉造成的
B．拍摄日落时水面下的景物时，可在照相机镜头前装一个偏振片来减少反射光
C．照相机镜头在阳光下看上去呈淡紫色，是由于光的衍射造成的
D．凸透镜把阳光会聚成边缘带彩色的光斑，“彩色边缘”是由于光的干涉造成的
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物体的影子边缘发虚，是由于光传播过程中在绕过障碍物的边缘时发生的衍射现象造成的，A错；光在介质界面同时发生反射和折射时会产生偏振现象，反射光和折射光是不同的偏振光，在镜头前加上合适的偏振片可以过滤一部分反射光，B正确；照相机镜头在阳光下看上去呈淡紫色，是由于镜头上的薄膜前后表面的反射光干涉所致，C错；凸透镜边缘的构造类似于三棱镜，彩色边缘是不同色光折射率不同而被分开产生的，D错。
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全息干涉法
全息干涉法是利用全息照相获得物体变形前后的光波波阵面相互干涉所产生的干渉条纹图，以分析物体变形的一种干涉量度方法，是实验应力分析方法的一种。
全息干涉法历史
1985年，R. L.鲍威尔和K. A.斯特森用波阵面再现干涉现象分析振动问题，开始了全息干涉法的实验研究。 当时，他们偶然发现了叠加在全息图上的“黑带”，认为它和拍摄全息图时物体的微小位移有关，就利用这些干涉条纹分析物体的振型；从此，全息干涉法作为一种新的干涉量度方法迅速发展起来。
全息干涉法研究内容
采用全息照相术，能将沿同一光路而时间不同的两个光波波阵面间的相互干涉显示出来。物体变形前，记录第一个波阵面，变形后再记录第二个波阵面。它们重叠在全息图上。这样，变形前后由物体散射的物光信息，都贮存在此全息图中。将全息图用激光再现时，能同时将物体变形前后的两个波阵面再现出来，由于这两个波阵面都是用相干光记录的，它们几乎在同一空间位置出现，具有完全确定的振幅和相位分布，所以能够相干而形成明喑相间的干涉条纹图。对于具有漫反射表面的不透明物体，条纹图表示物体沿观察方向的等位移线；对于透明的光弹性模型，例如有机玻璃模型，则表示模型中主应力和等于常数的等和线。
全息干涉法的主要内容是研究条纹图的形成、条纹的定位，以及对条纹图的解释。[2]
全息干涉法分类
常用的全息干涉法有双暴光法（两次曝光法）、实时法（即时法）、均时法（时间平均法）。
全息干涉法双暴光法
在全息光路布局中，用一张全息底片分别对变形前后的物体进行两次全息照相。这时，物体在变形前后的两个光波波阵面相互重叠， 固定在一张全息图中。如全息图用拍摄时的参考光照明，再现的干涉条纹图即表征物体在两次曝光之间的变形或位移。双曝光全息干涉法是简单易行的常用方法，可获得高反差的干涉条纹图。
全息干涉法实时法
用全息照相记录物体未变形时的散射光的波阵面。将全息底片显影，就得到全息图。若把全息图放在原来曝光时的位置并精确复位，再用拍摄时的参考光照射它，就能再现物体原来发射的光波波阵面。这时，如果物体仍处于原来的位置，用激光照明时，由全息图再现的光波波阵面，将和物体的散射光的波阵面完全重叠。值得注意的是，由全息图再现的光波波阵面是已固定在全息图中的“死”波阵面；而直接由物体散射的物光，其波阵面却随物体的变形(有位移或有应力）而变化，因而是一种“活”的波阵面。如果物体的变形很微小，则由于这两个波阵面相互干涉的结果，将产生一组干涉条纹图。物体表面位移每有变化，可变的波阵面即随着改变，便可观察到干涉条纹图的变化。因此,通过观察表征物体的变形或位移的干涉条纹图的变化，可实时观察到物体出现的任何微小的变化。实时全息干涉法的优点是利用一张全息照片可以重复观测物体变化的过程。如果一次观测不清楚，还可以再来一次。缺点是底片的精确复位比较困难。但在大多数情况下，用此法与双曝光全息干涉法相互补充，可节省大量的时间和底片。[1]
全息干涉法均时法
用全息照相对周期变化的物体长时间曝光以获得全息记录，又称时间平均法。实际上，它是多次曝光全息干涉法的一种极限情形。正如拍摄钟摆的照片时，采用了长时间曝光法，可明显得到钟摆在两个极限位置的象。对于定常振动体，此法能将其两个极限表面之间所有的连续过程的表面信息都记录下来。把这幅全息图再现时，所有这些表面散射的光波波阵面，将叠加成干涉条纹。振动体上振幅为零处的“波节点”，显现出淸晰明亮的节线；其余各点则随振幅和相位的不同，形成和等幅线极其相似的条纹分布。此法的优点是可以测量节线、振幅分布、振型和振幅值。进行全息记录时，只须采用连续波的激光器(如氦氖或氩离子激光器)，所用的技术也比较简单。缺点是不能测量振动相位，干涉条纹的反差随振蝠的增加而急剧降低，以及可测的振幅范围较窄。
全息干涉法优点
用全息图再现物光的波阵面，可将相位关系全部再现出来，所以能用再现的波阵面进行干涉测量。在激光器出现以前，要用普通的光学干涉法对表面粗糙的物体进行三维测量是极其困难的。若采用全息干涉法，就可实现分时干涉测量，换句话说，能使存在于不同时刻的波阵面之间的干涉显示出来。由于物光波阵面之间相互干涉时不需要基准波面，所以此法不受光学系统的象差等因索的影响。
全息干渉法是一种非接触式的全场检测方法，它对所测物体的工作条件和环境，如静态载荷、动态载荷、高温、髙压等，都没有严格限制，并有较高的检测灵敏度和精度(达到光波波长数量级)。全息图再现时，由于物光波阵面的三维性质，可以从不同的视角对一个复杂的物体进行全息干涉量度。全息干涉法对所用的光学元件的质量和安装调试的要求，也远远低于普通光学干涉法。
全息干涉法应用
全息干涉法可应用于三维位移场的定量分析（见位移场全息干涉分析）；应变和应力分析（见全息光弹性法），例如对精密机床的模型或实物的变形进行观测研究；用均时法或频闪法分析振型和振幅，如对涡轮叶片的振型(见图1)和螺旋桨振动问通的研究；测定裂纹张开位移和应力强度因子；研究材料的力学性能，例如测定受弯平板的泊松比；还可望对热应力和残余应力的研究作出定量评价；在无损检验中，可用它检测裂纹，这对于研究蜂窝板和轮胎一类的组合材料的内部缺陷，确是一种 行之有效的检测手段。
全息干涉法是全息照相术最有成效的应用领域之一；脉冲全息术的发展，放宽了全息照相对于防震系统、试验的环境和试验条件的要求。因此，应用脉冲全息干涉法解决动态位移和应变的测量问题是大有前途的。
1. C.M. Vest, Holographic Interferometry,
John Wiley& Sons, New .York, 1979.
2. 词条作者：柯敬唐． 《中国大百科全书·力学》 （第一版），中国大百科全书出版社 ，1985-08 ：400-401页 ．
中国力学学会是国际理论...
提供资源类型：内容简介/类光场相机
类光场相机是于2011年提出申请的一项专利。该专利权日获得美国专利和商标局批准，该项专利通过采用“微镜头阵列“组合”，已达到拍摄高低两种不同分辨率的照片。高画质照片为普通照片，导出后不可改变。而较低画质的照片为光场照片，可通过电脑在照片中任何一处进行重新对焦。
&技术特性/类光场相机
类光场相机 通过光场技术的应用，拍照的时候只需要构图即可，不需要对焦——因为这个可以在拍照完后在上对焦！这将会改变现在的拍照习惯。而这类相机将成为抓拍利器：无论抓拍的照片模糊与否，只要在相机的焦距范围内，对焦点可以在拍完之后随意选择，因为相机在拍照的时候就把焦距范围内所有信息都记录在内了。 另外，这种相机拍出来的照片是直接支持的，用3D的显示器展示照片并戴上眼镜后，可以清楚的看到&3D&照片，而且在&3D&的环境下同样能够做到实时转移焦点，令效果较平面移动更令人惊讶！ 但也由于这个原因，照片的容量会相对较大，8G的容量可以装下约350张照片。支持两种模式切换此次公布的苹果的专利设计还具备全光模式和普通模式切换功能。如果你希望采用传统方式拍照，那么得到的将是高像素的照片；而如果你想换个口味，尝试一下“先拍照，后对焦”的乐趣，那么则可以低照片模式进行。换句话来说，想保留高像素的照片，可以选择传统的拍照方式；而如果想体验一下“先拍照，后”的乐趣，那么在苹果的全光拍照模式下，则将得到低像素的照片。
应用前景/类光场相机
苹果的专利提到了将技术应用在移动设备上的可能。但公司并未就未来如何广泛使用透露更多具体信息。据称苹果考虑到竞争对手已经准备将光场相机引入智能手机的举措，甚至不排除未来的iPhone&6也会加入该技术的可能。
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