求推荐一款可以做光电流的高低温探针台

来源：蜘蛛抓取(WebSpider) 时间：2022-09-19 23:16 标签： 高低温半自动探针台

  • 半自动高低温探针台采用signatone探针台技术实现300mm尺寸晶圆探针台测试,属于半自动RF/DC/CV测试高功率探针台。

  • 微操作仪系统Axis Pro FC是为各种实验微操作设计的微纳操作仪器,电控制所有操作。全罩式车身提高了性能和安全性，使操作员避免事故和污染。微操作仪系统系统上的抽屉可以存放配件和微型工具。

  • 探针卡探测卡是探针台测试设计的probe card.

  • 探针操纵器Micromanipulator是为探针台微操作探针设计的探针台操纵器,用于各种探针操作定位。

  • 三轴探针臂,同轴探针臂是为fA级别探针测量专用三轴探针夹具,Triaxial probe arm.

  • 这款高压探针臂 probe arm也是大电流探针臂,可加持各种探针,满足20KV和200A的高压电流探针测试。

  • 探针尖probe tip是专业为探针台测试设计的探针头和探针针尖,具有钨针尖W,铍铜针尖BeCu,钯针尖Pd,铱针尖Ir可供选择。

  • 这款探针台热吸盘Hot chuck,Thermo chuck是探针台高温测试和低温测试的样品冷热台,耐受温度-55℃~350℃,非常适合晶圆探针台高低温测试。

  • 这款真空变温探针台是专业变温真空晶圆流测试设计的专业变温真空探针台,满足晶圆变温光电测试需要,测试温度范围达到液氮温度 -180℃~600℃,特别适合极高温和极低温环境下晶圆真空变温测试和射频测试。

  • 这款光电测试探针台是专业为8英寸和12英寸晶圆光电流测试设计的专业半自动变温光电探针台,可满足8英寸和12英寸晶圆变温光电测试需要,测试温度范围-60~350℃,特别适合高温和低温环境下晶圆变温测试和射频测试,可以实现自动晶圆对准和自动芯片对准。

  • 这款4英寸探针台是专业为4英寸晶圆测试设计的通用手动探针台,可满足4英寸晶圆测试需要,测试温度范围室温~300℃,可满足高温和低温环境下晶圆温度特性测试,RF测试等典型应用。

  • 这款手动晶圆测试探针台是专业为晶圆测试设计的专业手动探针台,可满足6英寸,8英寸和12英寸晶圆测试需要,测试温度范围室温~350℃,特别适合高温和低温环境下晶圆温度特性测试。

  • 这款专业手动探针台是专业为晶圆测试设计的晶圆测试探针台,可满足8英寸和12英寸晶圆测试需要,工作温度-60℃~350℃,特别适合晶圆高温和低温环境下温度特性测试。

  • 磁场低温探针台采用MicroXact低温磁探针台技术,满足电磁铁、超导磁体或电磁铁和超导磁体的组合测试应用。这种磁场低温探针台可用于低温自旋电子学测试、自旋转矩振荡器测试、霍尔效应测试、量子霍尔效应测试等。

  • 无氦低温探针台CPS-CF是为极低温探针测试设计的闭循环低温探针台系统,适合低温下对器件和电路进行探针测试。

  • 这款半自动真空探针台SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探针系统，设计用于支持在真空或受控气体环境中对多达100mm或200mm的晶片进行电动或半自动探测。

  • 这款磁探针台可提供三维磁场控制,满足磁性控制RF探针测试应用.作为磁场探针台实现了平面磁场的任意操控,方便自旋电子器件探针测试.

  • 这款高温探针台是为高温环境器件测试或真空环境或气体环境器件探针台分析测试而设计。手动高温探针台可测试50mm x 50mm的晶圆样品，电控或半自动高温探针台可测试100mm或更大尺寸晶圆样品。高温探针台在真空环境下可测量温度环境高达700摄氏度,在非真空环境下可测650摄氏度。

  • 这款闭循环低温真空探针台是半自动低温真空探针台,可在低温单CCR系统9K，双CCR系统4.5K和三CCR系统低于4K温度下测试经验和器件。闭循环低温真空探针台非常适合量子计算,超导电子等高科技应用。

  • 激光切割分析探针台集成分析探针台和半导体激光修调trimming系统,适合半导体分析切割,失效分析,半导体修调trimming,结构层移除,标记等诸多应用。

Ultimate是一款多功能共聚焦拉曼/荧光/光电流/荧光寿命（瞬态荧光）检测光谱成像系统，采用透射式光路设计，提高了产品的灵敏度和稳定性。*的振镜扫描技术能够在台面固定不动的情况下实现快速二维成像扫描。该（光电流+荧光寿命+拉曼光谱）成像系统技术在联用光电流成像系统载台时优势明显，并且可扩展增加荧光寿命检测系统。可实现拉曼/PL/光电流/荧光寿命功能。

（光电流+荧光寿命+拉曼光谱）成像系统整个系统的个构成如下图，需要测量拉曼和荧光信号时，样品激发的拉曼信号和荧光信号通过显微镜，再由光谱仪分光至ccd检测器接收，计算机软件读出拉曼和荧光的光谱信号并扫描成图像输出。需要测量荧光时间寿命时，转换器将样品激发的瞬态荧光信号分光至tcspc（单光子计数器），通过单光子计数器记录荧光的时间寿命。需要测量光电流时，接上探针台和电流计，激光激发样品产生的光电流信号通过探针引出至电流计，再读出至电脑软件，记录整个检测面的电流分布。

激光扫描技术,具有优异的扫描分辨率和重复性（激光扫描分辨率< 0.02 um & 重复性< 0.1 μm）

体相全息光栅光谱仪（光透过率>90%,比反射式光栅高30%,信号传输效率更高）

具有Raman/PL/光电流/荧光寿命检测等多种测量模式

光纤接口和空间光接口方便客户激光器接入

振镜扫描，平台不动，更易实现原位测量及偏振拉曼

石墨烯，二维材料，生物样本，半导体工业，碳纳米管，碳材料，太阳能电池，储能材料，纳米纤维分布，探测器光电性能检测，晶圆体分析，制药分析，纳米材料检测，生物细胞成像，微塑料检测，金刚石微粉检测

-大尺寸机械台，右手控制

-反射式LED照明光源

-5部分组成的旋转换镜转盘

超快单光子计数器 & 计数板卡

405 nm空间光路脉冲激发光（稳态荧光）

侧边放置的探针基座  旋钮式位移控制

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